Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis

Goldstein, Joseph/ Newbury, Dale/ Joy, David C./ Michael, Joseph/ Ritchie, Nicholas W. M.

ISBN 10: 149396674X ISBN 13: 9781493966745
Editore: Springer Verlag, 2017
Lingua: Inglese
Condizione: Nuovo Rilegato

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