Scanning Force Microscopy: With Applications to Electric, Magnetic, and Atomic Forces (Oxford Series on Optical and Imaging Sciences)

Lingua: inglese

Editore: U.S.A.: Oxford University Press, 1994

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Titolo
Scanning Force Microscopy: With Applications to Electric, Magnetic, and Atomic Forces (Oxford Series on Optical and Imaging Sciences)
Autore
Sarid, Dror
Editore
U.S.A.: Oxford University Press
Anno di pubblicazione
1994
Condizione
Good
Rilegatura
Hardcover
Lingua
inglese
ISBN 10
019509204X
ISBN 13
9780195092042
Edizione
2nd Edition
Cataloghi dei venditori
Electronics, Physics, Science

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