Scanning Probe Microscopy of Functional Materials

Lingua: inglese

Editore: Springer New York, 2010

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Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Serves the rapidly developing field of nanoscale characterization of functional materials propertiesCovers electrical, electromechanical, magnetic, and chemical properties of diverse materials including complex oxides, biopolymers, and semiconductorsFocuses.

Codice articolo 4176102

Titolo
Scanning Probe Microscopy of Functional Materials
Autore
Kalinin, Sergei V.|Gruverman, Alexei
Editore
Springer New York
Anno di pubblicazione
2010
Condizione
New
Rilegatura
Rilegato
Lingua
inglese
ISBN 10
144196567X
ISBN 13
9781441965677

moluna

Greven, Germania

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