Scanning Probe Microscopy in Nanoscience and Nanotechnology. Questo articolo non è disponibile.
Lingua: inglese
Editore: Springer-Verlag GmbH, 2010
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Descrizione dell’articolo da parte del venditore
Scanning Probe Microscopy in Nanoscience and Nanotechnology In deutscher Sprache. pages.
Codice articolo BN360916
- Titolo
- Scanning Probe Microscopy in Nanoscience and Nanotechnology
- Editore
- Springer-Verlag GmbH
- Anno di pubblicazione
- 2010
- Condizione
- gut
- Rilegatura
- Hardcover
- Lingua
- inglese
- ISBN 10
- 3642035345
- ISBN 13
- 9783642035340
- Edizione
- 2010.
- Peso dell'articolo
- 2000 grammi
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Dalla quarta di copertina
This book presents the physical and technical foundation of the state of the art in applied scanning probe techniques. It constitutes a timely and comprehensive overview of SPM applications. The chapters in this volume relate to scanning probe microscopy techniques, characterization of various materials and structures and typical industrial applications, including topographic and dynamical surface studies of thin-film semiconductors, polymers, paper, ceramics, and magnetic and biological materials. The chapters are written by leading researchers and application scientists from all over the world and from various industries to provide a broader perspective. With a foreword by the co-inventor of AFM, Christoph Gerber
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