Semiconductor Material and Device Characterization, Third Edition (Wiley IEEE)

Dieter K. Schroder

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Lingua: inglese

Editore: WileyBlackwell 2006-02-17, 2006

0471739065 / 9780471739067

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Titolo
Semiconductor Material and Device Characterization, Third Edition (Wiley IEEE)
Autore
Dieter K. Schroder
Editore
WileyBlackwell 2006-02-17
Anno di pubblicazione
2006
Condizione
New
Rilegatura
Hardcover
Lingua
inglese
ISBN 10
0471739065
ISBN 13
9780471739067
Edizione
terza edizione

Chiron Media

Wallingford, Regno Unito

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