Software Defect and Operational Profile Modeling
Cai, Kai-Yuan
ISBN 10: 1461375592 ISBN 13: 9781461375593
Editore: Springer, 2012
Nuovi
Brossura
Da
GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Venditore AbeBooks dal 6 aprile 2009
Questo articolo specifico non è più disponibile.
Riguardo questo articolo
Descrizione:
Codice articolo 19848936-n
Riassunto:
also in: THE KLUWER INTERNATIONAL SERIES ON ASIAN STUDIES IN COMPUTER AND INFORMATION SCIENCE, Volume 1
Recensione:
`This well-crafted summary of research and engineering in software defect estimation and operational profile modeling is a useful addition to the software reliability engineering literature.'
Computing Reviews (June 1999)
Le informazioni nella sezione "Su questo libro" possono far riferimento a edizioni diverse di questo titolo.
Dati bibliografici
Titolo: Software Defect and Operational Profile ...
Casa editrice: Springer
Data di pubblicazione: 2012
Legatura: Brossura
Condizione: New
I migliori risultati di ricerca su AbeBooks
Immagini fornite dal venditore
Software Defect and Operational Profile Modeling
Print on DemandDa: moluna, Greven, Germania
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. also in: THE KLUWER INTERNATIONAL SERIES ON ASIAN STUDIES IN COMPUTER AND INFORMATION SCIENCE, Volume 1 Preface. 1. Introduction. 2. Empirical Regression Methods. 3. Dynamic Methods. 4. Capture-Recapture Methods. 5. Decomposition Me. Codice articolo 4195688
Quantità: Più di 20 disponibili
Foto dell'editore
Software Defect and Operational Profile Modeling (International Series in Software Engineering)
Da: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: New. Codice articolo ABLIING23Mar2716030034012
Quantità: Più di 20 disponibili
Foto dell'editore
Software Defect and Operational Profile Modeling (Paperback)
Editore:
Springer-Verlag New York Inc., New York, NY, 2012
ISBN 10: 1461375592
ISBN 13: 9781461375593
Nuovo
Paperback
Da: Grand Eagle Retail, Bensenville, IL, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Paperback. Condizione: new. Paperback. also in: THE KLUWER INTERNATIONAL SERIES ON ASIAN STUDIES IN COMPUTER AND INFORMATION SCIENCE, Volume 1 also in: THE KLUWER INTERNATIONAL SERIES ON ASIAN STUDIES IN COMPUTER AND INFORMATION SCIENCE, Volume 1 Shipping may be from multiple locations in the US or from the UK, depending on stock availability. Codice articolo 9781461375593
Quantità: 1 disponibili
Immagini fornite dal venditore
Software Defect and Operational Profile Modeling
Editore:
Springer US, Springer New York Okt 2012, 2012
ISBN 10: 1461375592
ISBN 13: 9781461375593
Nuovo
Taschenbuch
Da: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Germania
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Taschenbuch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -also in: THE KLUWER INTERNATIONAL SERIES ON ASIAN STUDIES IN COMPUTER AND INFORMATION SCIENCE, Volume 1Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 292 pp. Englisch. Codice articolo 9781461375593
Quantità: 1 disponibili
Immagini fornite dal venditore
Software Defect and Operational Profile Modeling
Print on DemandDa: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Germania
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Taschenbuch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -also in: THE KLUWER INTERNATIONAL SERIES ON ASIAN STUDIES IN COMPUTER AND INFORMATION SCIENCE, Volume 1 292 pp. Englisch. Codice articolo 9781461375593
Quantità: 2 disponibili
Immagini fornite dal venditore
Software Defect and Operational Profile Modeling
Da: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Germania
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Taschenbuch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - also in: THE KLUWER INTERNATIONAL SERIES ON ASIAN STUDIES IN COMPUTER AND INFORMATION SCIENCE, Volume 1. Codice articolo 9781461375593
Quantità: 1 disponibili
Foto dell'editore
Software Defect and Operational Profile Modeling (International Series in Software Engineering)
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: New. In. Codice articolo ria9781461375593_new
Quantità: Più di 20 disponibili
Foto dell'editore
Software Defect and Operational Profile Modeling
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New. pp. 292. Codice articolo 2697849690
Quantità: 4 disponibili
Foto dell'editore
Software Defect and Operational Profile Modeling
Print on DemandDa: Majestic Books, Hounslow, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: New. Print on Demand pp. 292 49:B&W 6.14 x 9.21 in or 234 x 156 mm (Royal 8vo) Perfect Bound on White w/Gloss Lam. Codice articolo 94547589
Quantità: 4 disponibili
Foto dell'editore
Software Defect and Operational Profile Modeling
Print on DemandDa: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Germania
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: New. PRINT ON DEMAND pp. 292. Codice articolo 1897849680
Quantità: 4 disponibili