Spatial Point Patterns: Methodology and Applications with R (Chapman & Hall/CRC Interdisciplinary Statistics)

Baddeley, Adrian; Rubak, Ege; Turner, Rolf

ISBN 10: 1482210207 ISBN 13: 9781482210200
Editore: Chapman and Hall/CRC, 2015
Lingua: Inglese
Condizione: Nuovo Rilegato

Venduto da California Books, Miami, FL, U.S.A.

Venditore AbeBooks dal 27 ottobre 2023

Valutazione del venditore 4 su 5 stelle 4 stelle, Maggiori informazioni sulle valutazioni dei venditori

Visualizza gli articoli del venditore


Nuovi - Rilegato

Condizione: Nuovo

Prezzo:
EUR 188,52
Spedizione gratuita
Spedito in U.S.A.

Quantità: Più di 20 disponibili

Aggiungere al carrello