Spatial Point Patterns: Methodology and Applications With R

Lingua: inglese

Editore: Chapman & Hall, 2015

1482210207 / 9781482210200

Serie: Libro 1 di 1 - Chapman & Hall/CRC Interdisciplinary Statistics

Da: Revaluation Books, Exeter, Regno UnitoRevaluation Books

Venditore con 5 stelle

Venditore AbeBooks dal 6 gennaio 2003

Rilegato

Condizione: Nuovo

EUR 250,15

EUR 23,47 spedizione 
Spedito da Regno Unito a U.S.A.

Quantità: 2 disponibili

Aggiungi al carrello
Resi gratuiti per 30 giorni

Descrizione dell’articolo da parte del venditore

810 pages. 9.00x7.00x2.00 inches. In Stock.

Codice articolo x-1482210207

Titolo
Spatial Point Patterns: Methodology and Applications With R
Autore
Baddeley, Adrian/ Rubak, Ege/ Turner, Rolf
Editore
Chapman & Hall
Anno di pubblicazione
2015
Condizione
Brand New
Rilegatura
Hardcover
Lingua
inglese
ISBN 10
1482210207
ISBN 13
9781482210200
Peso dell'articolo
1,75 chilogrammi
Serie
Libro 1 di 1: Chapman & Hall/CRC Interdisciplinary Statistics

Revaluation Books

Exeter, Regno Unito

Venditore con 5 stelle

Venditore AbeBooks dal 6 gennaio 2003

Tariffe di spedizione da Regno Unito a U.S.A.

ArticoloDa 7 a 14 giorni lavorativiDa 2 a 3 giorni lavorativi
Primo articoloEUR 23,47EUR 35,20
I tempi di consegna sono stabiliti dai venditori e variano in base al corriere e al paese. Gli ordini che devono attraversare una dogana possono subire ritardi e spetta agli acquirenti pagare eventuali tariffe o dazi associati. I venditori possono contattarti in merito ad addebiti aggiuntivi dovuti a eventuali maggiorazioni dei costi di spedizione dei tuoi articoli.

Metodi di pagamento

  • Visa
  • Mastercard
  • American Express
  • Carte Bleue
  • Apple Pay
  • Google Pay

Informazioni sull’azienda del venditore

Edward Bowditch Ltd

Exstowe, Exton
Exeter, Regno Unito EX3 0PP