Spectroscopic Ellipsometry: Practical Application to Thin Film Characterization (Materials Characterization and Analysis Collection)

Tompkins, Harland G.; Hilfiker, James N.

ISBN 10: 1606507273 ISBN 13: 9781606507278
Editore: Momentum Press, 2015
Lingua: Inglese
Condizione: Nuovo Brossura

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