Statistical Analysis and Modelling of Spatial Point Patterns

Illian, Janine; Penttinen, Antti; Stoyan, Helga; Stoyan, Dietrich

ISBN 10: 0470014911 ISBN 13: 9780470014912
Editore: Wiley-Interscience, 2008
Lingua: Inglese
Condizione: Nuovo Rilegato

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