Statistical Analysis and Modelling of Spatial Point Patterns

Dietrich Stoyan Helga Stoyan Antti Penttinen Janine Illian

ISBN 10: 0470014911 ISBN 13: 9780470014912
Editore: John Wiley & Sons, 2008
Lingua: Inglese
Condizione: Nuovo Rilegato

Venduto da Books Puddle, New York, NY, U.S.A.

Venditore AbeBooks dal 22 novembre 2018

Valutazione del venditore 4 su 5 stelle 4 stelle, Maggiori informazioni sulle valutazioni dei venditori

Visualizza gli articoli del venditore


Nuovi - Rilegato

Condizione: Nuovo

Prezzo:
EUR 179,71
Spedizione EUR 3,49
Spedito in U.S.A.

Quantità: 3 disponibili

Aggiungere al carrello