Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer VLSI Designs

Shen, Ruijing, Tan, Sheldon X.-D., Yu, Hao

ISBN 10: 1489987878 ISBN 13: 9781489987877
Editore: Springer, 2014
Lingua: Inglese
Condizione: Usato - Come nuovo Brossura

Venduto da Mispah books, Redhill, SURRE, Regno Unito

Venditore AbeBooks dal 15 aprile 2021

Valutazione del venditore 4 su 5 stelle 4 stelle, Maggiori informazioni sulle valutazioni dei venditori

Visualizza gli articoli del venditore


Usato - Brossura

Condizione: Usato - Come nuovo

Prezzo:
EUR 180,00
Spedizione EUR 28,93
Spedito da Regno Unito a U.S.A.

Quantità: 1 disponibili

Aggiungere al carrello