Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer VLSI Designs

Shen, Ruijing; Tan, Sheldon X.-D.; Yu, Hao

ISBN 10: 1461407877 ISBN 13: 9781461407874
Editore: Springer, 2012
Lingua: Inglese
Condizione: Nuovo Rilegato

Venduto da Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito

Venditore AbeBooks dal 25 marzo 2015

Valutazione del venditore 5 su 5 stelle 5 stelle, Maggiori informazioni sulle valutazioni dei venditori

Visualizza gli articoli del venditore


Nuovi - Rilegato

Condizione: Nuovo

Prezzo:
EUR 113,49
Spedizione EUR 13,73
Spedito da Regno Unito a U.S.A.

Quantità: Più di 20 disponibili

Aggiungere al carrello