Structural, Syntactic, And Statistical Pattern Recognition : Joint Iapr International Workshops, Sspr 2006 And Spr 2006, Hong Kong, China, August 17-19, 2006, Proceedings

Yeung, Dit-Yan (EDT); Kwok, James T. (EDT); Fred, Ana (EDT); Roli, Fabio (EDT); De Ridder, Dick (EDT)

ISBN 10: 3540372369 ISBN 13: 9783540372363
Editore: Springer, 2006
Lingua: Inglese
Condizione: Nuovo Brossura

Venduto da GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.

Venditore AbeBooks dal 6 aprile 2009

Valutazione del venditore 5 su 5 stelle 5 stelle, Maggiori informazioni sulle valutazioni dei venditori

Visualizza gli articoli del venditore


Nuovi - Brossura

Condizione: Nuovo

Prezzo:
EUR 103,89
EUR 2,24 shipping
Spedito in U.S.A.

Quantità: 15 disponibili

Aggiungere al carrello