Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition : Joint Iapr International Workshop, S+sspr 2016, Mérida, Mexico, November 29 - December 2, 2016, Proceedings

Robles-kelly, Antonio (EDT); Loog, Marco (EDT); Biggio, Battista (EDT); Escolano, Francisco (EDT); Wilson, Richard (EDT)

ISBN 10: 3319490540 ISBN 13: 9783319490540
Editore: Springer, 2016
Lingua: Inglese
Condizione: Nuovo Brossura

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