Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition

Yeung, Dit-Yan|Kwok, James T.|Fred, Ana|Roli, Fabio|Ridder, Dick de

ISBN 10: 3540372369 ISBN 13: 9783540372363
Editore: Springer Berlin Heidelberg, 2006
Lingua: Inglese
Condizione: Nuovo Brossura

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Nuovi - Brossura

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