System-On-Chip Test Architectures: Nanometer Design for Testabilityvolume .

Lingua: inglese

Editore: Elsevier Science, 2008

012373973X / 9780123739735

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Emphasizes VLSI Test principles and Design for Testability architectures, with numerous illustrations/examples. Most up-to-date coverage available, including Fault Tolerance, Low-Power Testing, Defect and Error Tolerance, Network-on-Chip (.

Codice articolo 594356945

Titolo
System-On-Chip Test Architectures: Nanometer Design for Testabilityvolume .
Autore
Laung-Terng Wang|Charles E. Stroud|Nur A. Touba
Editore
Elsevier Science
Anno di pubblicazione
2008
Condizione
New
Rilegatura
Rilegato
Lingua
inglese
ISBN 10
012373973X
ISBN 13
9780123739735

moluna

Greven, Germania

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