Terrestrial Neutron-Induced Soft Errors in Advanced Memory Devices

Hideaki Kameyama Yasuo Yahagi Eishi Ibe Mamoru Baba Takashi Nakamura

ISBN 10: 9812778810 ISBN 13: 9789812778819
Editore: World Scientific Publishing Company, Incorporated, 2008
Lingua: Inglese
Condizione: Usato Rilegato

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