Testability Concepts for Digital ICs

Lingua: inglese

Editore: Springer US Nov 1995, 1995

0792396588 / 9780792396581

Serie: Libro 1 di 40 - Frontiers in Electronic Testing

Da: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, GermaniaBuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.

Venditore con 5 stelle

Venditore AbeBooks dal 11 gennaio 2012

Rilegato

Condizione: Nuovo

EUR 234,33

EUR 23,00 spedizione 
Spedito da Germania a U.S.A.

Quantità: 2 disponibili

Aggiungi al carrello
Resi gratuiti per 30 giorni

Descrizione dell’articolo da parte del venditore

This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Preface Testing Integrated Circuits for manufacturing defects includes four basic disciplines. First of all an understanding of the origin and behaviour of defects. Secondly, knowledge of IC design and IC design styles. Thirdly, knowledge of how to create a test program for an IC which is targeted on detecting these defects, and finally, understanding of the hardware, Automatic Test Equipment, to run the test on. All four items have to be treated, managed, and to a great extent integrated before the term 'IC quality' gets a certain meaning and a test a certain measurable value. The contents of this book reflects our activities on testability concepts for complex digital ICs as performed at Philips Research Laboratories in Eindhoven, The Netherlands. Based on the statements above, we have worked along a long term plan, which was based on four pillars. 1. The definition of a test methodology suitable for 'future' IC design styles, 2. capable of handling improved defect models, 3. supported by software tools, and 4. providing an easy link to Automatic Test Equipment. The reasoning we have followed was continuously focused on IC qUality. Quality expressed in terms of the ability of delivering a customer a device with no residual manufacturing defects. Bad devices should not escape a test. The basis of IC quality is a thorough understanding of defects and defect models. 228 pp. Englisch.…

Codice articolo 9780792396581

Titolo
Testability Concepts for Digital ICs
Autore
F. P. M. Beenker
Editore
Springer US Nov 1995
Anno di pubblicazione
1995
Condizione
Neu
Rilegatura
Buch
Lingua
inglese
ISBN 10
0792396588
ISBN 13
9780792396581
Peso dell'articolo
512 grammi
Dimensioni
241x160x17 mm
Serie
Libro 1 di 40: Frontiers in Electronic Testing

BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.

Bergisch Gladbach, Germania

Venditore con 5 stelle

Venditore AbeBooks dal 11 gennaio 2012

Tariffe di spedizione da Germania a U.S.A.

ArticoloDa 5 a 15 giorni lavorativiDa 5 a 15 giorni lavorativi
Primo articoloEUR 23,00EUR 23,00
I tempi di consegna sono stabiliti dai venditori e variano in base al corriere e al paese. Gli ordini che devono attraversare una dogana possono subire ritardi e spetta agli acquirenti pagare eventuali tariffe o dazi associati. I venditori possono contattarti in merito ad addebiti aggiuntivi dovuti a eventuali maggiorazioni dei costi di spedizione dei tuoi articoli.

Metodi di pagamento

  • Visa
  • Mastercard
  • American Express
  • Carte Bleue
  • Apple Pay
  • Google Pay
  • Assegno
  • Bonifico bancario
  • PayPal

Informazioni sull’azienda del venditore

BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.

Germania