Testability Concepts for Digital ICs

Lingua: inglese

Editore: Springer US, Springer US Nov 1995, 1995

0792396588 / 9780792396581

Serie: Libro 1 di 40 - Frontiers in Electronic Testing

Da: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Germaniabuchversandmimpf2000

Venditore con 5 stelle

Venditore AbeBooks dal 23 gennaio 2017

Rilegato

Condizione: Nuovo

EUR 160,49

EUR 60,00 spedizione 
Spedito da Germania a U.S.A.

Quantità: 1 disponibile

Aggiungi al carrello
Resi gratuiti per 30 giorni

Descrizione dell’articolo da parte del venditore

This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -Preface Testing Integrated Circuits for manufacturing defects includes four basic disciplines. First of all an understanding of the origin and behaviour of defects. Secondly, knowledge of IC design and IC design styles. Thirdly, knowledge of how to create a test program for an IC which is targeted on detecting these defects, and finally, understanding of the hardware, Automatic Test Equipment, to run the test on. All four items have to be treated, managed, and to a great extent integrated before the term 'IC quality' gets a certain meaning and a test a certain measurable value. The contents of this book reflects our activities on testability concepts for complex digital ICs as performed at Philips Research Laboratories in Eindhoven, The Netherlands. Based on the statements above, we have worked along a long term plan, which was based on four pillars. 1. The definition of a test methodology suitable for 'future' IC design styles, 2. capable of handling improved defect models, 3. supported by software tools, and 4. providing an easy link to Automatic Test Equipment. The reasoning we have followed was continuously focused on IC qUality. Quality expressed in terms of the ability of delivering a customer a device with no residual manufacturing defects. Bad devices should not escape a test. The basis of IC quality is a thorough understanding of defects and defect models.Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 228 pp. Englisch.…

Codice articolo 9780792396581

Titolo
Testability Concepts for Digital ICs
Autore
F. P. M. Beenker
Editore
Springer US, Springer US Nov 1995
Anno di pubblicazione
1995
Condizione
Neu
Rilegatura
Buch
Lingua
inglese
ISBN 10
0792396588
ISBN 13
9780792396581
Peso dell'articolo
512 grammi
Dimensioni
241x160x17 mm
Serie
Libro 1 di 40: Frontiers in Electronic Testing

buchversandmimpf2000

Emtmannsberg, BAYE, Germania

Venditore con 5 stelle

Venditore AbeBooks dal 23 gennaio 2017

Tariffe di spedizione da Germania a U.S.A.

ArticoloDa 60 a 60 giorni lavorativiDa 60 a 60 giorni lavorativi
Primo articoloEUR 60,00EUR 75,00
I tempi di consegna sono stabiliti dai venditori e variano in base al corriere e al paese. Gli ordini che devono attraversare una dogana possono subire ritardi e spetta agli acquirenti pagare eventuali tariffe o dazi associati. I venditori possono contattarti in merito ad addebiti aggiuntivi dovuti a eventuali maggiorazioni dei costi di spedizione dei tuoi articoli.

Metodi di pagamento

  • Visa
  • Mastercard
  • American Express
  • Carte Bleue
  • Apple Pay
  • Google Pay
  • Assegno
  • PayPal

Descrizione dello Store

Impressum Thorsten Retsch Buchversand Mimpf2000 Oberölschnitz 16 95517 Emtmannsberg Deutschland Telefon: 09209-2023188 Email: mimpf2000@online.de USt-ID-Nr.: DE 235096871 Wir führen gebrauchte Bücher aus allen Sparten der Literatur

Specializzazione

Modernes Antiquariat - Bücher von 1960 bis heute

Informazioni sull’azienda del venditore

buchversandmimpf2000

Germania