Testability Concepts for Digital ICs : The Macro Test Approach

Lingua: inglese

Editore: Humana, 1995

0792396588 / 9780792396581

Serie: Libro 1 di 40 - Frontiers in Electronic Testing

Da: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, GermaniaAHA-BUCH GmbH

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nach der Bestellung gedruckt Neuware - Printed after ordering - Preface Testing Integrated Circuits for manufacturing defects includes four basic disciplines. First of all an understanding of the origin and behaviour of defects. Secondly, knowledge of IC design and IC design styles. Thirdly, knowledge of how to create a test program for an IC which is targeted on detecting these defects, and finally, understanding of the hardware, Automatic Test Equipment, to run the test on. All four items have to be treated, managed, and to a great extent integrated before the term 'IC quality' gets a certain meaning and a test a certain measurable value. The contents of this book reflects our activities on testability concepts for complex digital ICs as performed at Philips Research Laboratories in Eindhoven, The Netherlands. Based on the statements above, we have worked along a long term plan, which was based on four pillars. 1. The definition of a test methodology suitable for 'future' IC design styles, 2. capable of handling improved defect models, 3. supported by software tools, and 4. providing an easy link to Automatic Test Equipment. The reasoning we have followed was continuously focused on IC qUality. Quality expressed in terms of the ability of delivering a customer a device with no residual manufacturing defects. Bad devices should not escape a test. The basis of IC quality is a thorough understanding of defects and defect models.

Codice articolo 9780792396581

Titolo
Testability Concepts for Digital ICs : The Macro Test Approach
Autore
A. P. Thijssen
Editore
Humana
Anno di pubblicazione
1995
Condizione
Neu
Rilegatura
Buch
Lingua
inglese
ISBN 10
0792396588
ISBN 13
9780792396581
Peso dell'articolo
512 grammi
Dimensioni
241x160x17 mm
Serie
Libro 1 di 40: Frontiers in Electronic Testing

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