Testability Concepts for Digital ICs : The Macro Test Approach

Libro 1 di 40: Frontiers in Electronic Testing

Beenker, F. P.; Thijssen, A. P.; Bennetts, R. G.

ISBN 10: 0792396588 ISBN 13: 9780792396581
Editore: Kluwer Academic Publishers, Boston, 1995
Lingua: Inglese
Condizione: Usato - Molto buono Rilegato

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