Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits (Devices, Circuits, and Systems)

ISBN 10: 1439829411 ISBN 13: 9781439829417
Editore: CRC Press, 2013
Lingua: Inglese
Condizione: Usato - Buono Rilegato

Venduto da HPB-Red, Dallas, TX, U.S.A.

Venditore AbeBooks dal 11 marzo 2019

Valutazione del venditore 5 su 5 stelle 5 stelle, Maggiori informazioni sulle valutazioni dei venditori

Visualizza gli articoli del venditore


Usato - Rilegato

Condizione: Usato - Buono

Prezzo:
EUR 206,71
Spedizione EUR 3,22
Spedito in U.S.A.

Quantità: 1 disponibili

Aggiungere al carrello