Testing Static Random Access Memories

Lingua: inglese

Editore: Springer US Dez 2010, 2010

1441954309 / 9781441954305

Serie: Libro 38 di 40 - Frontiers in Electronic Testing

Da: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, GermaniaBuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.

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This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Testing Static Random Access Memories covers testing of one of the important semiconductor memories types; it addresses testing of static random access memories (SRAMs), both single-port and multi-port. It contributes to the technical acknowledge needed by those involved in memory testing, engineers and researchers. The book begins with outlining the most popular SRAMs architectures. Then, the description of realistic fault models, based on defect injection and SPICE simulation, are introduced. Thereafter, high quality and low cost test patterns, as well as test strategies for single-port, two-port and any p-port SRAMs are presented, together with some preliminary test results showing the importance of the new tests in reducing DPM level. The impact of the port restrictions (e.g., read-only ports) on the fault models, tests, and test strategies is also discussed. Features: -Fault primitive based analysis of memory faults, -A complete framework of and classification memory faults, -A systematic way to develop optimal and high quality memory test algorithms, -A systematic way to develop test patterns for any multi-port SRAM, -Challenges and trends in embedded memory testing. 244 pp. Englisch.…

Codice articolo 9781441954305

Titolo
Testing Static Random Access Memories
Autore
Said Hamdioui
Editore
Springer US Dez 2010
Anno di pubblicazione
2010
Condizione
Neu
Rilegatura
Taschenbuch
Lingua
inglese
ISBN 10
1441954309
ISBN 13
9781441954305
Peso dell'articolo
376 grammi
Dimensioni
235x155x14 mm
Serie
Libro 38 di 40: Frontiers in Electronic Testing

BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.

Bergisch Gladbach, Germania

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