Thermal Testing of Integrated Circuits

Lingua: inglese

Editore: Springer, 2012

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Codice articolo x-144195287X

Titolo
Thermal Testing of Integrated Circuits
Autore
J. Altet/ Antonio Rubio
Editore
Springer
Anno di pubblicazione
2012
Condizione
Brand New
Rilegatura
Paperback
Lingua
inglese
ISBN 10
144195287X
ISBN 13
9781441952875
Peso dell'articolo
0,32 chilogrammi

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