Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits

Lingua: inglese

Editore: Springer International Publishing Jun 2013, 2013

3319005324 / 9783319005324

Serie: Libro 92 di 548 - Lecture Notes in Electrical Engineering

Da: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, GermaniaBuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.

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This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book first provides a comprehensive coverage of state-of-the-art validation solutions based on real-time signal tracing to guarantee the correctness of VLSI circuits. The authors discuss several key challenges in post-silicon validation and provide automated solutions that are systematic and cost-effective. A series of automatic tracing solutions and innovative design for debug (DfD) techniques are described, including techniques for trace signal selection for enhancing visibility of functional errors, a multiplexed signal tracing strategy for improving functional error detection, a tracing solution for debugging electrical errors, an interconnection fabric for increasing data bandwidth and supporting multi-core debug, an interconnection fabric design and optimization technique to increase transfer flexibility and a DfD design and associated tracing solution for improving debug efficiency and expanding tracing window. The solutions presented in this book improve the validation quality of VLSI circuits, and ultimately enable the design and fabrication of reliable electronic devices. 124 pp. Englisch.…

Codice articolo 9783319005324

Titolo
Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits
Autore
Qiang Xu
Editore
Springer International Publishing Jun 2013
Anno di pubblicazione
2013
Condizione
Neu
Rilegatura
Buch
Lingua
inglese
ISBN 10
3319005324
ISBN 13
9783319005324
Peso dell'articolo
360 grammi
Dimensioni
241x160x11 mm
Serie
Libro 92 di 548: Lecture Notes in Electrical Engineering

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