Traceability between Software Artifacts

Raquel Nitsche dos Santos|Raul Sidnei Wazlawick|Antônio V. dos Santos

ISBN 10: 6206204340 ISBN 13: 9786206204343
Editore: Our Knowledge Publishing, 2023
Lingua: Inglese
Condizione: Nuovo Brossura

Venduto da moluna, Greven, Germania

Venditore AbeBooks dal 9 luglio 2020

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Nuovi - Brossura

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