VLSI Design and Test for Systems Dependability
Lingua: inglese
Editore: Springer Japan Aug 2018, 2018
- Rilegato
- Nuovo
Da: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, GermaniaBuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.
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This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book discusses the new roles that the VLSI (very-large-scale integration of semiconductor circuits) is taking for the safe, secure, and dependable design and operation of electronic systems.The book consists of three parts. Part I, as a general introduction to this vital topic, describes how electronic systems are designed and tested with particular emphasis on dependability engineering, where the simultaneous assessment of the detrimental outcome of failures and cost of their containment is made. This section also describes the related research project 'Dependable VLSI Systems,' in which the editor and authors of the book were involved for 8 years. Part II addresses various threats to the dependability of VLSIs as key systems components, including time-dependent degradations, variations in device characteristics, ionizing radiation, electromagnetic interference, design errors, and tampering, with discussion of technologies to counter those threats. Part III elaborates on the design and test technologies for dependability in such applications as control of robots and vehicles, data processing, and storage in a cloud environment and heterogeneous wireless telecommunications. This book is intended to be used as a reference for engineers who work on the design and testing of VLSI systems with particular attention to dependability. It can be used as a textbook in graduate courses as well. Readers interested in dependable systems from social and industrial-economic perspectives will also benefit from the discussions in this book. 820 pp. Englisch.…
Codice articolo 9784431565925
- Titolo
- VLSI Design and Test for Systems Dependability
- Autore
- Shojiro Asai
- Editore
- Springer Japan Aug 2018
- Anno di pubblicazione
- 2018
- Condizione
- Neu
- Rilegatura
- Buch
- Lingua
- inglese
- ISBN 10
- 4431565922
- ISBN 13
- 9784431565925
- Peso dell'articolo
- 1379 grammi
- Dimensioni
- 241x160x50 mm
This book discusses the new roles that the VLSI (very-large-scale integration of semiconductor circuits) is taking for the safe, secure, and dependable design and operation of electronic systems.
The book consists of three parts. Part I, as a general introduction to this vital topic, describes how electronic systems are designed and tested with particular emphasis on dependability engineering, where the simultaneous assessment of the detrimental outcome of failures and cost of their containment is made. This section also describes the related research project “Dependable VLSI Systems,” in which the editor and authors of the book were involved for 8 years. Part II addresses various threats to the dependability of VLSIs as key systems components, including time-dependent degradations, variations in device characteristics, ionizing radiation, electromagnetic interference, design errors, and tampering, with discussion of technologies to counter those threats. Part III elaborates on the design and test technologies for dependability in such applications as control of robots and vehicles, data processing, and storage in a cloud environment and heterogeneous wireless telecommunications.
This book is intended to be used as a reference for engineers who work on the design and testing of VLSI systems with particular attention to dependability. It can be used as a textbook in graduate courses as well. Readers interested in dependable systems from social and industrial–economic perspectives will also benefit from the discussions in this book.
"Riassunto" può appartenere a un’altra edizione di questo titolo.
Dalla quarta di copertina
This book discusses the new roles that the VLSI (very-large-scale integration of semiconductor circuits) is taking for the safe, secure, and dependable design and operation of electronic systems.
The book consists of three parts. Part I, as a general introduction to this vital topic, describes how electronic systems are designed and tested with particular emphasis on dependability engineering, where the simultaneous assessment of the detrimental outcome of failures and cost of their containment is made. This section also describes the related research project “Dependable VLSI Systems,” in which the editor and authors of the book were involved for 8 years. Part II addresses various threats to the dependability of VLSIs as key systems components, including time-dependent degradations, variations in device characteristics, ionizing radiation, electromagnetic interference, design errors, and tampering, with discussion of technologies to counter those threats. Part III elaborates on the design and test technologies for dependability in such applications as control of robots and vehicles, data processing, and storage in a cloud environment and heterogeneous wireless telecommunications.
This book is intended to be used as a reference for engineers who work on the design and testing of VLSI systems with particular attention to dependability. It can be used as a textbook in graduate courses as well. Readers interested in dependable systems from social and industrial–economic perspectives will also benefit from the discussions in this book.
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