VLSI Fault Modeling and Testing Techniques

Lingua: inglese

Editore: Ablex Publishing Corp., 1993

0893917818 / 9780893917814

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Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. This text explores VLSI fault modelling and testing techniques and covers such topics as: physical fault modelling and simulation for VSLI MOS circuits designing CMOS gates to test open faults testing bridging faults in VLSI and testable design synthesis.

Codice articolo 447101356

Titolo
VLSI Fault Modeling and Testing Techniques
Autore
Zobrist, George W.
Editore
Ablex Publishing Corp.
Anno di pubblicazione
1993
Condizione
New
Rilegatura
Gebunden
Lingua
inglese
ISBN 10
0893917818
ISBN 13
9780893917814

moluna

Greven, Germania

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