VLSI Test Principles & Architectures
Kumar, J. D.
ISBN 10: 9385358421 ISBN 13: 9789385358425
Editore: Shree Publishers & Distributors, 2019
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Dati bibliografici
Titolo: VLSI Test Principles & Architectures
Casa editrice: Shree Publishers & Distributors
Data di pubblicazione: 2019
Legatura: N.A.
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VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability (Morgan Kaufmann Series in Systems on Silicon (Hardcover)).
Editore:
Morgan Kaufmann., 2006
ISBN 10: 0123705975
ISBN 13: 9780123705976
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1st ed. 21 x 24 cm. 808 pages. Hardcover. Versand aus Deutschland / We dispatch from Germany via Air Mail. Einband bestoßen, daher Mängelexemplar gestempelt, sonst sehr guter Zustand. Imperfect copy due to slightly bumped cover, apart from this in very good condition. Stamped. Sprache: Englisch. Codice articolo 6394VB
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VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability (The Morgan Kaufmann Series In Systems On Silicon)
Da: HPB-Red, Dallas, TX, U.S.A.
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VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability (The Morgan Kaufmann Series In Systems On Silicon)
Da: diakonia secondhand, München, Germania
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Condizione: Gut. 777 S. Einband hinten leicht eingedrückt. Schnitt unten dezent fleckig. Mit Bibliothek-Stempel. 518 Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 1800 Gebundene Ausgabe, Maße: 20.62 cm x 5.23 cm x 23.83 cm. Codice articolo 34773
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VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability (Morgan Kaufmann Series in Systems on Silicon (Hardcover))
Da: Goodwill Books, Hillsboro, OR, U.S.A.
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VLSI Test Principles and Architectures,: Design for Testability (Systems on Silicon)
Da: Chiron Media, Wallingford, Regno Unito
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VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability
Print on DemandDa: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, Italia
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VLSI Test Principles and Architectures
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VLSI Test Principles And Architectures: Design for Testability
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
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VLSI Test Principles and Architectures
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VLSI Test Principles and Architectures
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