Verification, Model Checking, and Abstract Interpretation : 4th International Conference, Vmcai 2003, New York, Ny, Usa, January 2003 : Proceedings

Zuck, Lenore D.; Attie, Paul C. (EDT); Cortesi, Agostino (EDT); Mukhopadhyay, Supratik (EDT); Vmcai 200 (2003 New York, Ny); Attie, Paul C.; Cortesi, Agostino; Mukhopadhyay, Supratik

ISBN 10: 3540003487 ISBN 13: 9783540003489
Editore: Springer, 2002
Lingua: Inglese
Condizione: Nuovo Brossura

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