X-Ray Spectrometry in Electron Beam Instruments

Lingua: inglese

Editore: Springer US Okt 2012, 2012

1461357381 / 9781461357384

Da: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, GermaniaBuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.

Venditore con 5 stelle

Venditore AbeBooks dal 11 gennaio 2012

Brossura

Condizione: Nuovo

EUR 187,20

EUR 23,00 spedizione 
Spedito da Germania a U.S.A.

Quantità: 2 disponibili

Aggiungi al carrello
Resi gratuiti per 30 giorni

Descrizione dell’articolo da parte del venditore

This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -From its early days in the 1950s, the electron microanalyzer has offered two principal ways of obtaining x-ray spectra: wavelength dispersive spectrometry (WDS), which utilizes crystal diffraction, and energy dispersive spectrometry (EDS), in which the x-ray quantum energy is measured directly. In general, WDS offers much better peak separation for complex line spectra, whereas EDS gives a higher collection efficiency and is easier and cheaper to use. Both techniques have undergone major transformations since those early days, from the simple focusing spectrometerand gas proportional counter of the 1950s to the advanced semiconductor detectors and programmable spectrometersoftoday. Becauseofthesedevelopments, thecapabilities and relative merits of EDS and WDS techniques have been a recurring feature of microprobeconferences for nearly40 years, and this volume bringstogetherthepapers presented at the Chuck Fiori Memorial Symposium, held at the Microbeam Analysis Society Meeting of 1993. Several themes are apparent in this rich and authoritative collection of papers, which have both a historical and an up-to-the-minute dimension. Light element analysis has long been a goal of microprobe analysts since Ray Dolby first detected K radiation with a gas proportional counter in 1960. WDS techniques (using carbon lead stearate films) were not used for this purpose until four years later. Now synthetic multilayers provide the best dispersive elements for quantitative light element analy sis-still used in conjunction with a gas counter. 396 pp. Englisch.…

Codice articolo 9781461357384

Titolo
X-Ray Spectrometry in Electron Beam Instruments
Autore
Joseph Goldstein
Editore
Springer US Okt 2012
Anno di pubblicazione
2012
Condizione
Neu
Rilegatura
Taschenbuch
Lingua
inglese
ISBN 10
1461357381
ISBN 13
9781461357384
Peso dell'articolo
742 grammi
Dimensioni
254x178x22 mm

BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.

Bergisch Gladbach, Germania

Venditore con 5 stelle

Venditore AbeBooks dal 11 gennaio 2012

Tariffe di spedizione da Germania a U.S.A.

ArticoloDa 5 a 15 giorni lavorativiDa 5 a 15 giorni lavorativi
Primo articoloEUR 23,00EUR 23,00
I tempi di consegna sono stabiliti dai venditori e variano in base al corriere e al paese. Gli ordini che devono attraversare una dogana possono subire ritardi e spetta agli acquirenti pagare eventuali tariffe o dazi associati. I venditori possono contattarti in merito ad addebiti aggiuntivi dovuti a eventuali maggiorazioni dei costi di spedizione dei tuoi articoli.

Metodi di pagamento

  • Visa
  • Mastercard
  • American Express
  • Carte Bleue
  • Apple Pay
  • Google Pay
  • Assegno
  • Bonifico bancario
  • PayPal

Informazioni sull’azienda del venditore

BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.

Germania