Yield-Aware Analog IC Design and Optimization in Nanometer-scale Technologies

Lingua: inglese

Editore: Springer, Springer Mär 2020, 2020

303041535X / 9783030415358

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This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -This book presents a new methodology with reduced time impact to address the problem of analog integrated circuit (IC) yield estimation by means of Monte Carlo (MC) analysis, inside an optimization loop of a population-based algorithm. The low time impact on the overall optimization processes enables IC designers to perform yield optimization with the most accurate yield estimation method, MC simulations using foundry statistical device models considering local and global variations. The methodology described by the authors delivers on average a reduction of 89% in the total number of MC simulations, when compared to the exhaustive MC analysis over the full population. In addition to describing a newly developed yield estimation technique, the authors also provide detailed background on automatic analog IC sizing and optimization.Springer-Verlag KG, Sachsenplatz 4-6, 1201 Wien 264 pp. Englisch.

Codice articolo 9783030415358

Titolo
Yield-Aware Analog IC Design and Optimization in Nanometer-scale Technologies
Autore
António Manuel Lourenço Canelas
Editore
Springer, Springer Mär 2020
Anno di pubblicazione
2020
Condizione
Neu
Rilegatura
Buch
Lingua
inglese
ISBN 10
303041535X
ISBN 13
9783030415358
Peso dell'articolo
565 grammi
Dimensioni
241x160x20 mm

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