Yield Simulation for Integrated Circuits (the Springer International Series in Engineering and Computer Science) (Hardcover)
Walker, Duncan Moore Henry
ISBN 10: 0898382440 ISBN 13: 9780898382440
Editore: Springer, 1987
Usato
Hardcover
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Textsellers, Hampton, NH, U.S.A.
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Riguardo questo articolo
Descrizione:
Hardcover, 209 pp. Light corner bump, else new. Codice articolo 022473
Riassunto:
Since only half the chip area would have redundancy, I was concerned that the increase in yield would not outweigh the increased costs of testing and redundancy programming. I wanted a simulator that would allow me to evaluate the yield of arbitrary redundant layouts, hence I termed such a simulator a layout or yield simulator.
Contenuti: 1. Introduction.- 2. Background.- 3. Defect Models.- 4. Defect Statistics.- 5. Fault Analysis.- 6. VLASIC Implementation.- 7. Redundancy Analysis System.- 8. Fabrication Data.- 9. Conclusions and Current Research.- References.
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Dati bibliografici
Titolo: Yield Simulation for Integrated Circuits (...
Casa editrice: Springer
Data di pubblicazione: 1987
Legatura: Hardcover
Condizione: Fine
Condizione sovraccoperta: No Jacket
Tipologia articolo: Book