Yield and Variability Optimization of Integrated Circuits

Lingua: inglese

Editore: Springer, 2012

146135935X / 9781461359357

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Codice articolo ERICA800146135935X6

Titolo
Yield and Variability Optimization of Integrated Circuits
Autore
Jian Cheng Zhang, Styblinski, M.A.
Editore
Springer
Anno di pubblicazione
2012
Condizione
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Tipo di libro
book
Rilegatura
Paperback
Lingua
inglese
ISBN 10
146135935X
ISBN 13
9781461359357

Mispah books

Redhill, Surrey, Regno Unito

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