Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability : A Physics of Failure Approach

Libro 4 di 4: Electronic Packaging

Pecht, Michael, Hakim, Edward B., Lall, Pradeep

ISBN 10: 0849394503 ISBN 13: 9780849394508
Editore: CRC Press LLC, 1997
Lingua: Inglese
Condizione: Usato - Buono Rilegato

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