Multi-Label Dimensionality Reduction (Chapman & Hall/crc Machine Learning & Pattern Recognition Series)

Libro 12 di 15: Chapman & Hall/Crc Machine Learning & Pattern Recognition

Liang Sun, Shuiwang Ji & Jieping Ye

ISBN 10: 1439806152 ISBN 13: 9781439806159
Editore: Chapman and Hall/Crc, Boca Raton, Florida, 2014
Lingua: Inglese
Condizione: Usato - Quasi ottimo Rilegato

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