Statistical Analysis and Modelling of Spatial Point Patterns

Janine Illian, Antti Penttinen, Helga Stoyan, Dietrich Stoyan

ISBN 10: 0470014911 ISBN 13: 9780470014912
Editore: John Wiley and Sons Inc, US, 2008
Lingua: Inglese
Condizione: Nuovo Rilegato

Venduto da Rarewaves.com USA, London, LONDO, Regno Unito

Venditore AbeBooks dal 11 giugno 2025

Valutazione del venditore 5 su 5 stelle 5 stelle, Maggiori informazioni sulle valutazioni dei venditori

Visualizza gli articoli del venditore


Nuovi - Rilegato

Condizione: Nuovo

Prezzo:
EUR 162,22
Spedizione gratuita
Spedito da Regno Unito a U.S.A.

Quantità: Più di 20 disponibili

Aggiungere al carrello