Beek maurice ter (158 risultati)
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From Software Engineering to Formal Methods and Tools, and Back : Essays Dedicated to Stefania Gnesi on the Occasion of Her 65th Birthday
Ter Beek, Maurice H. (EDT); Fantechi, Alessandro (EDT); Semini, Laura (EDT)
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Critical Systems - Formal Methods and Automated Verification : Joint 21st International Workshop on Formal Methods for Industrial Critical Systems and 16th International Workshop on Automated Verification of Critical Systems, FMICS-AVoCS 2016, Pisa, Italy, September 26-28, 2016, Proceedings
Ter Beek, Maurice H. (EDT); Gnesi, Stefania (EDT); Knapp, Alexander (EDT)
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Formal Methods : The Next 30 Years; Third World Congress, Fm 2019, Porto, Portugal, October 7-11, 2019, Proceedings
Ter Beek, Maurice (EDT); McIver, Annabelle (EDT); Oliveira, José N. (EDT)
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Paperback. Condizione: new. Paperback. This book constitutes the refereed proceedings of the 28th Brazilian Symposium on Formal Methods: Foundations and Applications, SBMF 2025, held in Recife, Brazil, during December 35, 2025.The 12 full papers and 1 short paper included in this book were carefully reviewed and selected from 24… submissions. They were organized in topical sections as follows: Process Algebras and Time; Formal Verification; Testing; Availability and Contracts; Formal Methods and AI; and Teaching and Foundations. This book constitutes the refereed proceedings of the 28th Brazilian Symposium on Formal Methods: Foundations and Applications, SBMF 2025, held in Recife, Brazil, during December 35, 2025.The 12 full papers and 1 short paper included in this book were carefully reviewed and selected from 24 submissions. Formal Methods and AI; Shipping may be from multiple locations in the US or from the UK, depending on stock availability.
From Software Engineering to Formal Methods and Tools, and Back : Essays Dedicated to Stefania Gnesi on the Occasion of Her 65th Birthday
Ter Beek, Maurice H. (EDT); Fantechi, Alessandro (EDT); Semini, Laura (EDT)
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Formal Methods : The Next 30 Years; Third World Congress, Fm 2019, Porto, Portugal, October 7-11, 2019, Proceedings
Ter Beek, Maurice (EDT); McIver, Annabelle (EDT); Oliveira, José N. (EDT)
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