Fates 200 (8 risultati)
Formal Approaches to Software Testing : Third International Workshop on Formal Approaches to Testing of Software : Fates 2003 : Montreal, Quebec, Canada, October 6th, 2003 : Revised Papers
Petrenko, Alexandre (EDT); Ulrich, Andreas; IEEE International Automated Software Engineering Conference; Fates 200 (2003 Montreal, Quebec)
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Formal Approaches to Software Testing : 4th International Workshop, Fates 2004, Linz, Austria, September 21, 2004
Grabowski, Jens; Nielsen, Brian; Fates 200 (2004 Linz, Austria)
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Formal Approaches to Software Testing : 4th International Workshop, Fates 2004, Linz, Austria, September 21, 2004
Grabowski, Jens; Nielsen, Brian; Fates 200 (2004 Linz, Austria)
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Formal Approaches to Software Testing : Third International Workshop on Formal Approaches to Testing of Software : Fates 2003 : Montreal, Quebec, Canada, October 6th, 2003 : Revised Papers
Petrenko, Alexandre (EDT); Ulrich, Andreas; IEEE International Automated Software Engineering Conference; Fates 200 (2003 Montreal, Quebec)
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Formal Approaches to Software Testing : 4th International Workshop, Fates 2004, Linz, Austria, September 21, 2004
Grabowski, Jens; Nielsen, Brian; Fates 200 (2004 Linz, Austria)
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Formal Approaches to Software Testing : 4th International Workshop, Fates 2004, Linz, Austria, September 21, 2004
Grabowski, Jens; Nielsen, Brian; Fates 200 (2004 Linz, Austria)
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Formal Approaches to Software Testing : Third International Workshop on Formal Approaches to Testing of Software : Fates 2003 : Montreal, Quebec, Canada, October 6th, 2003 : Revised Papers
Petrenko, Alexandre (EDT); Ulrich, Andreas; IEEE International Automated Software Engineering Conference; Fates 200 (2003 Montreal, Quebec)
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Formal Approaches to Software Testing : Third International Workshop on Formal Approaches to Testing of Software : Fates 2003 : Montreal, Quebec, Canada, October 6th, 2003 : Revised Papers
Petrenko, Alexandre (EDT); Ulrich, Andreas; IEEE International Automated Software Engineering Conference; Fates 200 (2003 Montreal, Quebec)
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