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Spedito da Spagna a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: Bueno. : Este libro ofrece una visión exhaustiva de los avances recientes en la comprensión de los defectos eléctricamente activos en materiales microelectrónicos, centrándose principalmente en la microelectrónica basada en silicio. La obra pone especial énfasis en aquellos defectos que limitan la calidad, fiabilidad, capacidad de fabricación y respuesta a la radiación de los dispositivos.A través de las perspectivas de destacados teóricos e investigadores, se analizan los defectos en aislantes y semiconductores, así como los mecanismos de fallo relacionados con el hidrógeno. Además, el texto explora materiales semiconductores compuestos para aplicaciones microelectrónicas y examina nueva información obtenida a partir de modelos físicos y de ingeniería, siendo una referencia esencial para ingenieros y científicos del sector. EAN: 9780367386399 Tipo: Libros Categoría: Tecnología|Ciencias Título: Defects in Microelectronic Materials and Devices Autor: Daniel M. Fleetwood| Sokrates T. Pantelides| Ronald D. Schrimpf Editorial: CRC Press Idioma: en Páginas: 770 Formato: tapa blanda.
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Defects in Microelectronic Materials and Devices
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: As New. Unread book in perfect condition.
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Defects in Microelectronic Materials and Devices
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 76,19
Spedizione EUR 17,30
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Defects in Microelectronic Materials and Devices
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: New.
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Defects in Microelectronic Materials and Devices
Da: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 89,65
Spedizione EUR 3,40
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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Defects in Microelectronic Materials and Devices
Da: Majestic Books, Hounslow, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 90,76
Spedizione EUR 7,50
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 3 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Defects in Microelectronic Materials and Devices
Da: THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 87,58
Spedizione EUR 14,81
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloPaperback / softback. Condizione: New. New copy - Usually dispatched within 4 working days.
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Defects in Microelectronic Materials and Devices
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 87,83
Spedizione EUR 17,30
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: As New. Unread book in perfect condition.
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Defects in Microelectronic Materials and Devices
Da: Chiron Media, Wallingford, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 93,56
Spedizione EUR 17,87
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 10 disponibili
Aggiungi al carrelloPaperback. Condizione: New.
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Defects in Microelectronic Materials and Devices
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 100,64
Spedizione EUR 13,82
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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Defects in Microelectronic Materials and Devices
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New. 1st edition NO-PA16APR2015-KAP.
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Radiation Effects And Soft Errors In Integrated Circuits And Electronic Devices
Lingua: Inglese
Editore: World Scientific Publishing Company, 2004
ISBN 10: 9812389407 ISBN 13: 9789812389404
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 155,04
Spedizione EUR 2,25
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Defects in Microelectronic Materials and Devices
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 139,50
Spedizione EUR 17,30
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloPaperback. Condizione: Brand New. 770 pages. 10.00x7.00x1.75 inches. In Stock.
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Radiation Effects And Soft Errors In Integrated Circuits And Electronic Devices
Lingua: Inglese
Editore: World Scientific Publishing Company, 2004
ISBN 10: 9812389407 ISBN 13: 9789812389404
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 163,56
Spedizione EUR 2,25
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: As New. Unread book in perfect condition.
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Radiation Effects And Soft Errors In Integrated Circuits And Electronic Devices
Lingua: Inglese
Editore: World Scientific Publishing Company, 2004
ISBN 10: 9812389407 ISBN 13: 9789812389404
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 161,25
Spedizione EUR 17,30
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Radiation Effects And Soft Errors In Integrated Circuits And Electronic Devices
Lingua: Inglese
Editore: World Scientific Publishing Company, 2004
ISBN 10: 9812389407 ISBN 13: 9789812389404
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 164,10
Spedizione EUR 17,30
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: As New. Unread book in perfect condition.
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RADIATION EFFECTS AND SOFT ERRORS IN INTEGRATED CIRCUITS AND ELECTRONIC DEVICES (Selected Topics in Electronics and Systems)
Lingua: Inglese
Editore: World Scientific Publishing Company, 2004
ISBN 10: 9812389407 ISBN 13: 9789812389404
Da: BennettBooksLtd, Los Angeles, CA, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
hardcover. Condizione: New. In shrink wrap. Looks like an interesting title!
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Defects in Microelectronic Materials And Devices
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: New.
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Defects in Microelectronic Materials and Devices
Da: PBShop.store US, Wood Dale, IL, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
HRD. Condizione: New. New Book. Shipped from UK. Established seller since 2000.
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Defects in Microelectronic Materials and Devices
Da: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 226,94
Spedizione EUR 9,79
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloHRD. Condizione: New. New Book. Shipped from UK. Established seller since 2000.
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Radiation Effects And Soft Errors In Integrated Circuits And Electronic Devices
Lingua: Inglese
Editore: World Scientific Pub Co Inc, 2004
ISBN 10: 9812389407 ISBN 13: 9789812389404
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 221,11
Spedizione EUR 14,42
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloPaperback. Condizione: Brand New. 338 pages. 9.75x6.50x0.75 inches. In Stock.
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Defects in Microelectronic Materials And Devices
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 226,92
Spedizione EUR 17,30
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Defects in Microelectronic Materials And Devices
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 257,78
Spedizione EUR 17,30
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: As New. Unread book in perfect condition.
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Defects in Microelectronic Materials and Devices
Da: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 248,29
Spedizione EUR 28,83
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Like New. LIKE NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
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Defects in Microelectronic Materials And Devices
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: As New. Unread book in perfect condition.
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EUR 233,96
Spedizione EUR 48,99
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. Daniel M. Fleetwood, Sokrates T. Pantelides, Ronald D. SchrimpfUncover the Defects that Compromise Performance and ReliabilityAs microelectronics features and devices become smaller and more complex, it is critical that engineers.
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Defects in Microelectronic Materials and Devices
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New. pp. 770.
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Defects in Microelectronic Materials And Devices
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 282,49
Spedizione EUR 23,07
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Brand New. 1st edition. 792 pages. 10.00x7.10x1.50 inches. In Stock.
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Defects in Microelectronic Materials and Devices
Da: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Germania
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 302,63
Spedizione EUR 9,95
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 3 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. pp. 770.
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Defects in Microelectronic Materials and Devices
Lingua: Inglese
Editore: Taylor & Francis Inc Nov 2008, 2008
ISBN 10: 1420043765 ISBN 13: 9781420043761
EUR 290,47
Spedizione EUR 67,60
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloBuch. Condizione: Neu. Neuware - Focusing primarily on silicon-based microelectronics, Defects in Microelectronic Materials and Devices provides a comprehensive overview of recent progress made in understanding the effects of electrically active defects in microelectronic materials. The book places particular emphasis on defects that limit device quality, reliability, manufacturability, and radiation response. Notable theorists and researchers present their perspectives on defects in insulators and in semiconductors as well as hydrogen and defect-related failure mechanisms. The text also discusses compound semiconductor materials for microelectronic applications and examines new information garnered from physics and engineering models.
