Gnier ste phane (2 risultati)

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Atomic Force Microscopy Based Nanorobotics : Modelling, Simulation, Setup Building and Experiments
Xie, Hui; Onal, Cagdas; Re gnier, Ste phane; Sitti, Metin
Lingua: Inglese
Editore: Springer, 2014
3642445012 / 9783642445019
Serie: Springer Tracts in Advanced Robotics, Libro 74 di 153. Libro 74 di 153 - Springer Tracts in Advanced Robotics
- Brossura
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.GreatBookPrices
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Atomic Force Microscopy Based Nanorobotics : Modelling, Simulation, Setup Building and Experiments
Xie, Hui; Onal, Cagdas; Re gnier, Ste phane; Sitti, Metin
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