Importo totale (1 articolo articoli):
Destinazione ordine:
graydon larrabee (13 risultati)
Vai alla pagina principale dei risultati di ricerca
Filtri di ricerca
Tipo di articolo
- Tutti i tipi di prodotto
- Libri (13)
- Riviste e Giornali (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Fumetti (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Spartiti (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Arte, Stampe e Poster (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Fotografie (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Mappe (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Manoscritti e Collezionismo cartaceo (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
Condizioni Maggiori informazioni
- Nuovo (3)
- Come nuovo, Ottimo o Quasi ottimo (1)
- Molto buono o Buono (8)
- Discreto o Mediocre (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Come descritto (1)
Legatura
Ulteriori caratteristiche
- Prima ed. (6)
- Copia autograf. (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Sovracoperta (2)
- Con foto (1)
- Non Print on Demand (13)
Lingua (2)
Spedizione gratuita
Paese del venditore
Valutazione venditore
-
Characterization of Semiconductor Materials
Da: Better World Books, Mishawaka, IN, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: Good. Former library copy. Pages intact with minimal writing/highlighting. The binding may be loose and creased. Dust jackets/supplements are not included. Includes library markings. Stock photo provided. Product includes identifying sticker. Better World Books: Buy Books. Do Good.
-
Characterization of Semiconductor Materials
Editore: McGraw Hill, New York, 1970
Da: P.C. Schmidt, Bookseller, Kettering, OH, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Prima edizione
Hard Cover. Condizione: Very Good. First Edition. a very good hardcover; an ex-library copy with usual markings; internally pages bright and clean; ---------- SATISFACTION GUARANTEED --------- FAST, COURTEOUS SERVICE ------ ALL ORDERS SHIPPED WITH DELIVERY CONFIRMATION; Size: 7 x 10". Ex-Library.
-
Characterization of Semiconductor Materials
Editore: McGraw Hill, New York, 1970
Da: P.C. Schmidt, Bookseller, Kettering, OH, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Prima edizione
Hard Cover. Condizione: Very Good. First Edition. a very good hardcover; an ex-library copy with usual markings; internally pages bright and clean; ---------- SATISFACTION GUARANTEED --------- FAST, COURTEOUS SERVICE ------ ALL ORDERS SHIPPED WITH DELIVERY CONFIRMATION; Size: 7 x 10". Ex-Library.
-
Characterization of Solid Surfaces
Da: BookDepart, Shepherdstown, WV, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Hardcover. Condizione: UsedGood. Hardcover; surplus library copy with the usual stampings; reference number taped to spine; light fading, shelf wear to exterior; tape marks on front cover; bump to bottom corners; otherwise in good condition with clean text, firm binding.
-
Characterization of Solid Surfaces
Da: Bingo Books 2, Vancouver, WA, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Prima edizione
Hardcover. Condizione: Very Good. Condizione sovraccoperta: Good. 1st Edition. HARDBACK BOOK IN VERY GOOD CONDITION,DUST JACKET IS GOOD TO VERY GOOD.
-
Characterization of Semiconductor Materials
Editore: McGraw-Hill, 1970
Da: BookDepart, Shepherdstown, WV, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Hardcover. Condizione: UsedGood. Hardcover; Texas Instruments Electronics Series; surplus library copy with the usual stampings; reference number affixed to spine; fading and shelf wear to exterior; otherwise in good condition with clean text and tight binding.
-
Vlsi Electronics Microstructure Science Volume 6: Materials and Process Characterization
Da: Daedalus Books, Portland, OR, U.S.A.
Membro dell'associazione: CBA
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Prima edizione
Hardcover. Condizione: Very Good. Condizione sovraccoperta: No Dust Jacket. First Edition. Name penned to top edge. A nice, crisp copy. ; 8vo ; 601 pages.
-
Characterization of Semiconductor Materials
Editore: McGraw-Hill Book Co, New York, 1970
Da: Rivermead Books, Southampton., Regno Unito
Valutazione del venditore 1 su 5 stelle
Prima edizione
EUR 14,14
Spedizione EUR 24,03
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCloth. Condizione: Very Good. Condizione sovraccoperta: Good. First Edition. VG/Good, orange-brown pictorial dj in transparent dw and with white titles on spine faded to grey, ex-Royal Aircraft Establishment Library, contents are clean and unmarked, large octavo 351pp. Weight 900g so an oversized and overweight book that will require extra shipping charges. A book in the Texas Instruments Electronic series. Semiconductor principles; bulk-material characterization; materials characterization in single-crystal growth; analysis of single-crystals for chemical imperfections; characterization of single crystals for physical imperfections; characterization of semiconductor surfaces; characterization of epitaxial films; diffusion; characterization of thin films. Ex-Library.
-
Vlsi Electronics Microstructure Science Volume 6 : Materials and Process Characterization
Da: Feldman's Books, Menlo Park, CA, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Prima edizione
Hardcover. Condizione: Fine. 1st Edition. No Markings.
-
Characterization of Solid Surfaces.
Editore: Library stamps/marks on first free endpaper and titelpage. Text clean. Plenum Press, New York.
Da: Antiquariaat Ovidius, Bredevoort, Paesi Bassi
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 24,00
Spedizione EUR 22,00
Spedito da Paesi Bassi a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: Gebraucht / Used. third printing. 1978. Hardcover. xviii,670pp.
-
Characterization of Solid Surfaces
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 111,53
Spedizione EUR 13,71
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
-
Materials and Process Characterization: VLSI Electronics Microstructure Science, Vol. 6
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 115,80
Spedizione EUR 17,17
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloPaperback. Condizione: Brand New. 614 pages. 9.25x6.00x1.39 inches. In Stock.
-
EUR 124,02
Spedizione EUR 48,99
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. Until comparatively recently, trace analysis techniques were in general directed toward the determination of impurities in bulk materials. Methods were developed for very high relative sensitivity, and the values determined were average values. Sampling pro.
