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  • Lingua: Inglese

    Editore: Plenum Press, 1989

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    Da: BookDepart, Shepherdstown, WV, U.S.A.BookDepart

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    Hardcover. Condizione: Very Good. Hardcover; Volume 32 only; proceedings of the 37th annual conference on App lications of X-Ray Analysis, held August 1-5, 1988, in Steamboat Springs, C olorado; light fading and shelf wear to exterior; former owner's stamping o n front endpaper; a few small spots at top page edge; in very good c

  • Lingua: Inglese

    Editore: Springer, 1992

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    Da: Basi6 International, Irving, TX, U.S.A.Basi6 International

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    hardcover. Condizione: Very Good. Plenum Press, NY c.1991, 8vo. cloth, 743pp. F/F $.

  • Lingua: Inglese

    Editore: Springer, 1992

    0306442493 / 9780306442490

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    Da: SMASS Sellers, IRVING, TX, U.S.A.SMASS Sellers

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    Editore: Springer, 2012

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    Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno UnitoRia Christie Collections

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    1461365325 / 9781461365327

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  • Lingua: Inglese

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    Editore: Springer, 1992

    0306442493 / 9780306442490

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    Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.Books Puddle

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  • Lingua: Inglese

    Editore: Springer, 1992

    0306442493 / 9780306442490

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    Da: Biblios, frankfurt am main, HESSE, GermaniaBiblios

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  • Lingua: Inglese

    Editore: Springer, 2012

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    Editore: Springer, 2012

    146139998X / 9781461399988

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    Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno UnitoRia Christie Collections

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    Lingua: Inglese

    Editore: Springer, 2012

    1461365325 / 9781461365327

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    Taschenbuch. Condizione: Neu. Advances in X-Ray Analysis | Volume 35B | C. S. Barrett (u. a.) | Taschenbuch | iv | Englisch | 2012 | Springer | EAN 9781461365327 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.

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    Editore: SP SPRINGER, 1997

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    Editore: Springer, Springer, 2012

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    Editore: Springer, Berlin, 1992

    0306442493 / 9780306442490

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    Editore: Springer, 1992

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    Da: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno UnitoMispah books

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  • Lingua: Inglese

    Editore: Springer Okt 1992, 1992

    0306442493 / 9780306442490

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    Da: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, GermaniaAHA-BUCH GmbH

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    Buch. Condizione: Neu. Neuware - Whole Pattern Fitting, Rietveld Analysis, and Calculated Diffraction Patterns. Quantitative Phase Analysis by XRay Diffraction (XRD). Thin Film and Surface Characterization by XRD. Lattice Defects and XRay Topography. Texture Analysis by XRD. XRD Instrumentation, Techniques, and Reference Materia

  • Lingua: Inglese

    Editore: Springer, 1989

    0306432366 / 9780306432361

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    Editore: Springer, 2013

    1475791127 / 9781475791129

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    Taschenbuch. Condizione: Neu. Advances in X-Ray Analysis | Volume 32 | Charles S. Barrett (u. a.) | Taschenbuch | xxvi | Englisch | 2013 | Springer | EAN 9781475791129 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.

  • Lingua: Inglese

    Editore: Springer, 2013

    1475791127 / 9781475791129

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    Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.Books Puddle

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  • Lingua: Inglese

    Editore: Springer, 1989

    0306432366 / 9780306432361

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    Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.Books Puddle

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    Condizione: New. pp. 712.

  • Lingua: Inglese

    Editore: Springer, Springer, 2013

    1475791127 / 9781475791129

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    Da: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, GermaniaAHA-BUCH GmbH

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    Taschenbuch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - The 37th Annual Denver Conference on Applications of X-Ray Analysis was held August 1-5, 1988, at the Sheraton Steamboat Resort and Conference Center, Steamboat Springs, Colorado. As usual, alternating with x-ray diffraction, the emphasis this yea

  • Lingua: Inglese

    Editore: Springer US, Springer New York, 1989

    0306432366 / 9780306432361

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    Da: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, GermaniaAHA-BUCH GmbH

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    Buch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - The 37th Annual Denver Conference on Applications of X-Ray Analysis was held August 1-5, 1988, at the Sheraton Steamboat Resort and Conference Center, Steamboat Springs, Colorado. As usual, alternating with x-ray diffraction, the emphasis this year was x

  • Lingua: Inglese

    Editore: Springer, 2013

    1475791127 / 9781475791129

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    Da: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno UnitoMispah books

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    Editore: Springer, 1989

    0306432366 / 9780306432361

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