Importo totale (1 articolo articoli):
Destinazione ordine:
j v gilfrich (57 risultati)
Vai alla pagina principale dei risultati di ricerca
Filtri di ricerca
Tipo di articolo
- Tutti i tipi di prodotto
- Libri (57)
- Riviste e Giornali (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Fumetti (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Spartiti (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Arte, Stampe e Poster (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Fotografie (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Mappe (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Manoscritti e Collezionismo cartaceo (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
Condizioni Maggiori informazioni
- Nuovo (48)
- Come nuovo, Ottimo o Quasi ottimo (6)
- Molto buono o Buono (3)
- Discreto o Mediocre (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Come descritto (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
Legatura
Ulteriori caratteristiche
- Prima ed. (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Copia autograf. (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Sovracoperta (2)
- Con foto (20)
- Non Print on Demand (36)
Lingua (2)
Spedizione gratuita
Paese del venditore
Valutazione venditore
-
Advances in X-Ray Analysis, Volume 32
Da: BookDepart, Shepherdstown, WV, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Hardcover. Condizione: Very Good. Hardcover; Volume 32 only; proceedings of the 37th annual conference on Applications of X-Ray Analysis, held August 1-5, 1988, in Steamboat Springs, Colorado; light fading and shelf wear to exterior; former owner's stamping on front endpaper; a few small spots at top page edge; in very good condition with clean text, firm binding. Dust jacket shows light scuffing and shelf wear.
-
Advances in X-Ray Analysis, Vol. 35A and 35B
Da: Zubal-Books, Since 1961, Cleveland, OH, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: Good. 2 Volumes, 1334 pp., hardcover, ex library, else text and bindings clean and tight. - If you are reading this, this item is actually (physically) in our stock and ready for shipment once ordered. We are not bookjackers. Buyer is responsible for any additional duties, taxes, or fees required by recipient's country.
-
Advances In X - Ray Analysis
Da: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: New. This is a Brand-new US Edition. This Item may be shipped from US or any other country as we have multiple locations worldwide.
-
ADVANCES IN X - RAY ANALYSIS
Da: Basi6 International, Irving, TX, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: Brand New. New. US edition. Expediting shipping for all USA and Europe orders excluding PO Box. Excellent Customer Service.
-
hardcover, Condizione: Very Good, Plenum Press, NY c.1991, 8vo. cloth, 743pp. F/F $.
-
Condizione: New. Brand New Original US Edition. Customer service! Satisfaction Guaranteed.
-
Advances in X-Ray Analysis: Volume 35B
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 61,07
Spedizione EUR 13,98
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
-
Advances in X-Ray Analysis : Volume 35B
Da: Chiron Media, Wallingford, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 57,93
Spedizione EUR 18,08
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 10 disponibili
Aggiungi al carrelloPF. Condizione: New.
-
Advances in X-Ray Analysis
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: New.
-
Advances in X-Ray Analysis
Da: Majestic Books, Hounslow, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 69,81
Spedizione EUR 7,59
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. pp. 1334.
-
Advances in X-Ray Analysis
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New. pp. 1334 1st Edition.
-
Advances in X-Ray Analysis
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: As New. Unread book in perfect condition.
-
Advances in X-Ray Analysis
Da: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Germania
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 70,82
Spedizione EUR 9,95
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. pp. 1334.
-
Advances in X-Ray Analysis
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New. pp. 648.
-
Advances in X-Ray Analysis, Vol. 33
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New. pp. xx + 704.
-
Advances In X-Ray Analysis
Da: Basi6 International, Irving, TX, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: Brand New. New. US edition. Expediting shipping for all USA and Europe orders excluding PO Box. Excellent Customer Service.
-
Advances in X-Ray Analysis, Vol. 35
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 102,63
Spedizione EUR 13,98
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
-
EUR 50,40
Spedizione EUR 70,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 5 disponibili
Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. Advances in X-Ray Analysis | Volume 35B | C. S. Barrett (u. a.) | Taschenbuch | iv | Englisch | 2012 | Springer | EAN 9781461365327 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
-
EUR 61,89
Spedizione EUR 65,50
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Whole Pattern Fitting, Rietveld Analysis, and Calculated Diffraction Patterns. Quantitative Phase Analysis by XRay Diffraction (XRD). Thin Film and Surface Characterization by XRD. Lattice Defects and XRay Topography. Texture Analysis by XRD. XRD Instrumentation, Techniques, and Reference Materials. Stress Determination by Diffraction Methods. XRD Profile Fitting, Crystallite Size and Strain Determination. XRD Applications: Detection Limits, Superconductors, Organics, Minerals. Mathematical Methods in XRay Spectrometry (XRS). Thin Film and Surface Characterization by XRS and XPS. Total Reflection XRS. XRS Techniques and Instrumentation. XRS Applications. XRay Imaging and Tomography. 161 articles. Index.
-
EUR 104,46
Spedizione EUR 48,99
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloGebunden. Condizione: New. Whole Pattern Fitting, Rietveld Analysis, and Calculated Diffraction Patterns. Quantitative Phase Analysis by XRay Diffraction (XRD). Thin Film and Surface Characterization by XRD. Lattice Defects and XRay Topography. Texture Analysis by XRD. XRD Instrument.
-
Advances in X-Ray Analysis, Vol. 35
Da: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 132,25
Spedizione EUR 29,18
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Like New. LIKE NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
-
EUR 130,97
Spedizione EUR 66,41
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloBuch. Condizione: Neu. Neuware - Whole Pattern Fitting, Rietveld Analysis, and Calculated Diffraction Patterns. Quantitative Phase Analysis by XRay Diffraction (XRD). Thin Film and Surface Characterization by XRD. Lattice Defects and XRay Topography. Texture Analysis by XRD. XRD Instrumentation, Techniques, and Reference Materials. Stress Determination by Diffraction Methods. XRD Profile Fitting, Crystallite Size and Strain Determination. XRD Applications: Detection Limits, Superconductors, Organics, Minerals. Mathematical Methods in XRay Spectrometry (XRS). Thin Film and Surface Characterization by XRS and XPS. Total Reflection XRS. XRS Techniques and Instrumentation. XRS Applications. XRay Imaging and Tomography. 161 articles. Index.
-
Advances in X-Ray Analysis: Volume 32
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 227,27
Spedizione EUR 13,98
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
-
Advances in X-Ray Analysis: Volume 32
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 227,27
Spedizione EUR 13,98
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
-
Advances in X-Ray Analysis
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: New.
-
Advances in X-Ray Analysis
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: New.
-
EUR 184,95
Spedizione EUR 70,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 5 disponibili
Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. Advances in X-Ray Analysis | Volume 32 | Charles S. Barrett (u. a.) | Taschenbuch | xxvi | Englisch | 2013 | Springer | EAN 9781475791129 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
-
Advances in X-Ray Analysis
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New. pp. 708.
-
Advances in X-Ray Analysis
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New. pp. 712.
-
EUR 225,03
Spedizione EUR 66,54
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - The 37th Annual Denver Conference on Applications of X-Ray Analysis was held August 1-5, 1988, at the Sheraton Steamboat Resort and Conference Center, Steamboat Springs, Colorado. As usual, alternating with x-ray diffraction, the emphasis this year was x-ray fluorescence, but as has been the pattern for several occasions over the last few years, the Plenary Session did not deal with that subject, specifically. In an attempt to introduce the audience to one of the new developments in x-ray analysis, the title of the session was 'High Brilliance Sources/Applications,' and dealt exclusively with synchrotron radiation, a topic which has made a very large impact on the x-ray community over the last decade. As the organizer and co-chairman of the Plenary Session (with Paul Predecki), it is my responsibility to report on that session here. The Conference had the privilege of obtaining the services of some of the preeminent practitioners of research using this remarkable x-ray source; they presented the audience with unusually lucid descriptions of the work which has been accomplished in the development and application of the continuous, high intensity, tunable, polarized and collimated x-rays available from no facility other than these specialized storage rings. The opening lecture (and I use that term intentionally) was an enthusiastic description of 'What is Synchrotron Radiation ' by Professor Boris Batterman of Cornell University and the Cornell High Energy Synchrotron Sourc(! (CHESS).
