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Paese del venditore
Valutazione venditore
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Characterization of Semiconductor Materials
Editore: McGraw Hill, New York, 1970
Da: P.C. Schmidt, Bookseller, Kettering, OH, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Prima edizione
Hard Cover. Condizione: Very Good. First Edition. a very good hardcover; an ex-library copy with usual markings; internally pages bright and clean; ---------- SATISFACTION GUARANTEED --------- FAST, COURTEOUS SERVICE ------ ALL ORDERS SHIPPED WITH DELIVERY CONFIRMATION; Size: 7 x 10". Ex-Library.
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Characterization of Solid Surfaces
Da: BookDepart, Shepherdstown, WV, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Hardcover. Condizione: UsedGood. Hardcover; surplus library copy with the usual stampings; reference number taped to spine; light fading, shelf wear to exterior; tape marks on front cover; bump to bottom corners; otherwise in good condition with clean text, firm binding.
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Characterization of Semiconductor Materials
Editore: McGraw-Hill, 1970
Da: BookDepart, Shepherdstown, WV, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Hardcover. Condizione: UsedGood. Hardcover; Texas Instruments Electronics Series; surplus library copy with the usual stampings; reference number affixed to spine; fading and shelf wear to exterior; otherwise in good condition with clean text and tight binding.
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Characterization of Semiconductor Materials
Editore: McGraw-Hill Book Co, New York, 1970
Da: Rivermead Books, Southampton., Regno Unito
Valutazione del venditore 1 su 5 stelle
Prima edizione
EUR 14,43
Spedizione EUR 24,52
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCloth. Condizione: Very Good. Condizione sovraccoperta: Good. First Edition. VG/Good, orange-brown pictorial dj in transparent dw and with white titles on spine faded to grey, ex-Royal Aircraft Establishment Library, contents are clean and unmarked, large octavo 351pp. Weight 900g so an oversized and overweight book that will require extra shipping charges. A book in the Texas Instruments Electronic series. Semiconductor principles; bulk-material characterization; materials characterization in single-crystal growth; analysis of single-crystals for chemical imperfections; characterization of single crystals for physical imperfections; characterization of semiconductor surfaces; characterization of epitaxial films; diffusion; characterization of thin films. Ex-Library.
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Vlsi Electronics Microstructure Science Volume 6 : Materials and Process Characterization
Da: Feldman's Books, Menlo Park, CA, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Prima edizione
Hardcover. Condizione: Fine. 1st Edition. No Markings.
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Characterization of Solid Surfaces.
Editore: Library stamps/marks on first free endpaper and titelpage. Text clean. Plenum Press, New York.
Da: Antiquariaat Ovidius, Bredevoort, Paesi Bassi
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 24,00
Spedizione EUR 22,00
Spedito da Paesi Bassi a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: Gebraucht / Used. third printing. 1978. Hardcover. xviii,670pp.
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Characterization of Solid Surfaces
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: As New. Unread book in perfect condition.
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Characterization of Solid Surfaces
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 116,51
Spedizione EUR 13,99
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
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Characterization of Solid Surfaces
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: New.
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Materials and Process Characterization: VLSI Electronics Microstructure Science, Vol. 6
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 118,14
Spedizione EUR 17,51
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloPaperback. Condizione: Brand New. 614 pages. 9.25x6.00x1.39 inches. In Stock.
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Characterization of Solid Surfaces
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New. pp. 692.
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EUR 128,20
Spedizione EUR 48,99
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. Until comparatively recently, trace analysis techniques were in general directed toward the determination of impurities in bulk materials. Methods were developed for very high relative sensitivity, and the values determined were average values. Sampling pro.
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EUR 159,46
Spedizione EUR 65,87
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. Neuware - Until comparatively recently, trace analysis techniques were in general directed toward the determination of impurities in bulk materials. Methods were developed for very high relative sensitivity, and the values determined were average values. Sampling procedures were devised which eliminated the so-called sampling error. However, in the last decade or so, a number of developments have shown that, for many purposes, the distribution of defects within a material can confer important new properties on the material. Perhaps the most striking example of this is given by semiconductors; a whole new industry has emerged in barely twenty years based entirely on the controlled distribu tion of defects within what a few years before would have been regarded as a pure, homogeneous crystal. Other examples exist in biochemistry, metallurgy, polyiners and, of course, catalysis. In addition to this of the importance of distribution, there has also been a recognition growing awareness that physical defects are as important as chemical defects. (We are, of course, using the word defect to imply some dis continuity in the material, and not in any derogatory sense. ) This broadening of the field of interest led the Materials Advisory Board( I} to recommend a new definition for the discipline, 'Materials Character ization,' to encompass this wider concept of the determination of the structure and composition of materials. In characterizing a material, perhaps the most important special area of interest is the surface.
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Characterization of Solid Surfaces
Da: Majestic Books, Hounslow, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 159,50
Spedizione EUR 7,59
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 4 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. Print on Demand pp. 692 67:B&W 6.69 x 9.61 in or 244 x 170 mm (Pinched Crown) Perfect Bound on White w/Gloss Lam.
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Characterization of Solid Surfaces
Da: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Germania
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 161,05
Spedizione EUR 9,95
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 4 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. PRINT ON DEMAND pp. 692.
