Linghong (14 risultati)
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Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.GreatBookPrices
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Paperback or Softback. Condizione: New. Electromigration. Book.
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Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.GreatBookPrices
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Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno UnitoRia Christie Collections
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Da: Chiron Media, Wallingford, Regno UnitoChiron Media
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Paperback. Condizione: New.
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Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno UnitoGreatBookPricesUK
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Condizione: New.
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Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno UnitoGreatBookPricesUK
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EUR 54,12
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Condizione: As New. Unread book in perfect condition.
Editore: Hangzhou Grand Theatre, 2005
- Rilegato
Da: Minotavros Books, ABAC ILAB, Whitby, ON, CanadaMinotavros Books, ABAC ILAB
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Usato - Quasi ottimo
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Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Near Fine. Condizione sovraccoperta: Near Fine. 8.5" x 9.5" 118 p.p. Light blue cloth boards with titling in blind to front board, spine unlettered. Corners bumped, spine tail slightly worn. Dust jacket lightly bumped to extremities, a few scuffs, else fine. Ink gift inscription to title page. Colour photo…graphy throughout. A collection of photographs from the first season of the Hangzhou Grand Theatre (completed in 2004), built by Canadian architect Carlos Ott and Petroff Partnership Architects in Qianjiang, China. Zeng, Linghong [photography] (illustratore).
Lingua: Inglese
Editore: VDM Verlag Dr. Müller|VDM Verlag Dr. Müller e.K., 2008
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Da: moluna, Greven, Germaniamoluna
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Kartoniert / Broschiert. Condizione: New. Electromigration is a microscopic phenomenoninvolving electric field-induced diffusion, which isvery relevant to damage in interconnections. Acommon method for monitoring interconnectiondegradation is through electrical resistancemeasurements, which require.
Lingua: Inglese
Editore: VDM Verlag Dr. Müller, VDM Verlag Dr. Müller E.K., 2008
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Da: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, GermaniaAHA-BUCH GmbH
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Taschenbuch. Condizione: Neu. Neuware - Electromigration is a microscopic phenomenoninvolving electric field-induced diffusion, which isvery relevant to damage in interconnections. Acommon method for monitoring interconnectiondegradation is through electrical resistancemeasurements, which requires direct electricalcontact. It is… desirable to develop non-contactmethods to monitor electromigration damageformation. In this thesis, we propose a novelOptical Microscopy Imaging Method (OMIM), and weprovide a theoretical description and experimentalresults. OMIM not only provides a new method forstudying electromigration, but also provides auseful method for studying other micro-devices andmaterials in a non- contact mode.
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Da: Bay Used Books, Sudbury, ON, CanadaBay Used Books
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EUR 63,76
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Soft cover. Condizione: Very Good. Very good condition. Light wear. Binding tight, pages clean. Pictures available upon request.
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Da: PBShop.store US, Wood Dale, IL, U.S.A.PBShop.store US
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Da: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Regno UnitoPBShop.store UK
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