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AUTOTESTCON '79, International AUTOMATIC TESTING Conference: 19-21 September 1979, Minneapolis, Minnesota
Editore: IEEE; The Institute of Electrical and Electronic Engineers, Inc., New York, NY, U.S.A., 1979
Da: SUNSET BOOKS 2, Newark, OH, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Prima edizione
Paperback. Condizione: Very Good. No Jacket. 1st. 1 volume. W/full markings and pocket. Will not fit in Flat Rate Priority Mail envelope. USPS Variable Rate applies for Domestic or International. Size: 4to. Ex-Library.
