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Paese del venditore
Valutazione venditore
-
Advances in Optical and Electron Microscopy
Lingua: Inglese
Editore: London & San Diego : Academic Press, 1989
Da: avelibro OHG, Dinkelscherben, Germania
Membro dell'associazione: BOEV
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 28,00
Spedizione EUR 10,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrello23,5 x 15,5 cm. Condizione: Gut. Volume 11. XI, 185 Pages ; With Figures Original Hardcover (Pappband) mit Bibliotheksrückenschild im sehr guten Zustand, innen mit Bibliotheksstempeln. Englische Sprache. - Original Hardboard with Library label on back in very good condition, inside with Library stamps. English Language B12-02-01B|S78 Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 458.
-
Advances in Optical and Electron Microscopy
Lingua: Inglese
Editore: London & San Diego : Academic Press, 1991
Da: avelibro OHG, Dinkelscherben, Germania
Membro dell'associazione: BOEV
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 28,00
Spedizione EUR 10,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrello23,5 x 15,5 cm. Condizione: Gut. Volume 12. XII, 363 Pages ; With Figures Original Hardcover (Pappband) mit Bibliotheksrückenschild im sehr guten Zustand, innen mit Bibliotheksstempeln. Englische Sprache. - Original Hardboard with Library label on back in very good condition, inside with Library stamps. English Language B14-02-01G|S80 Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 690.
-
Advances in Optical and Electron Microscopy, Volume 12.
Lingua: Inglese
Editore: London/New York, Academic Press, 1991
ISBN 10: 0120299127 ISBN 13: 9780120299126
Da: Antiquariat Smock, Freiburg, Germania
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Prima edizione
EUR 40,00
Spedizione EUR 33,90
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: Gut. Formateinband: Pappband / gebundene Ausgabe XII, 363 S. (24 cm) 1st Edition; (With many figures); Sauberes Exemplar aus Institutsbibliothek mit den üblichen Schildchen und Stempeln; sonst tadellos. Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 800 [Stichwörter: Invention of the Electron Fresnel Interference Biprism, Electron Image Plane Off-axis Holography of Atomic Structures, Magnetic Through-the-lens detection in electron microscopy and spectroscopy, Advances in voltage-contrast detectors in scanning electron microscopes, Scanning Near-field optical microscopy (SNOM), Microscopic thermal wave non-destructive testing].
