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Stress Analysis of Silicon Carbide Microelectromechanical Systems Using Raman Spectroscopy
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 16,96
Spedizione EUR 2,26
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Stress Analysis of Silicon Carbide Microelectromechanical Systems Using Raman Spectroscopy (Paperback or Softback)
Da: BargainBookStores, Grand Rapids, MI, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Paperback or Softback. Condizione: New. Stress Analysis of Silicon Carbide Microelectromechanical Systems Using Raman Spectroscopy. Book.
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Christopher Street: #225, May, 1995: Spring Fiction Issue
Editore: That New Magazine, New York, 1995
Da: Bolerium Books Inc., San Francisco, CA, U.S.A.
Membro dell'associazione: ABAA ILAB
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Rivista / Giornale Prima edizione
Magazine. 40p., 8.5x11 inches, articles, reviews, news, photos, illustrations, ads, light wear else good magazine in stapled pictorial wraps.
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Stress Analysis of Silicon Carbide Microelectromechanical Systems Using Raman Spectroscopy
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 19,21
Spedizione EUR 13,76
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
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Stress Analysis of Silicon Carbide Microelectromechanical Systems Using Raman Spectroscopy
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 18,54
Spedizione EUR 17,22
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Visual and Optical Testing (Nondestructive Testing Handbook)
Lingua: Inglese
Editore: Amer Society for Nondestructive, 1993
ISBN 10: 0931403057 ISBN 13: 9780931403057
hardcover. Condizione: Very Good. Connecting readers with great books since 1972! Used books may not include companion materials, and may have some shelf wear or limited writing. We ship orders daily and Customer Service is our top priority!
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EUR 24,00
Spedizione EUR 48,99
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. KlappentextrnrnDuring the fabrication of Micro-Electro-Mechanical Systems (MEMS), residual stress is often induced in the thin films that are deposited to create these systems. These stresses can cause the device to fail due to buckling, curling.
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Visual and Optical Testing (Nondestructive Testing Handbook)
Lingua: Inglese
Editore: Amer Society for Nondestructive, 1993
ISBN 10: 0931403057 ISBN 13: 9780931403057
Da: Gardner's Used Books, Inc., Tulsa, OK, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Hardcover. Condizione: Good. Great shape hardback. Dust jacket is in nice shape with no rips or tears. Pages are clean and unmarked. Minor rubbing on upper edge of dust jacket. Tulsa's largest used bookstore. Located on South Mingo Road since 1991. No-hassle return policy if not completely satisfied.
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Stress Analysis of Silicon Carbide Microelectromechanical Systems Using Raman Spectroscopy
Lingua: Inglese
Editore: Creative Media Partners, LLC, 2012
ISBN 10: 128686237X ISBN 13: 9781286862377
Da: PBShop.store US, Wood Dale, IL, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 20,44
Spedizione gratuita
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloPAP. Condizione: New. New Book. Shipped from UK. THIS BOOK IS PRINTED ON DEMAND. Established seller since 2000.
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Stress Analysis of Silicon Carbide Microelectromechanical Systems Using Raman Spectroscopy
Lingua: Inglese
Editore: Creative Media Partners, LLC Okt 2012, 2012
ISBN 10: 128686237X ISBN 13: 9781286862377
EUR 46,50
Spedizione EUR 60,89
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. Neuware - During the fabrication of Micro-Electro-Mechanical Systems (MEMS), residual stress is often induced in the thin films that are deposited to create these systems. These stresses can cause the device to fail due to buckling, curling, or fracture. Government and industry are looking for ways to characterize the stress during the deposition of thin films in order to reduce or eliminate device failure. Micro-Raman spectroscopy has been successfully used to analyze poly-silicon MEMS devices made with the Multi-User MEMS Process (MUMPS). Micro-Raman spectroscopy was selected because it is nondestructive, fast and has the potential for in situ stress monitoring. This research attempts to validate the use of Raman spectroscopy to analyze the stress in MEMS made of silicon carbide (SiC) using the Multi-User Silicon Carbide surface micromachining (MUSiC) process. Surface interferometry of fixed-fixed beam arrays and comb drive resonance test are employed to determine stress and compare it to the Raman values. Research also includes baseline spectra of 6H, 4H, and 15R poly-types of bulk SiC. Raman spectra of 1- to 2-µm thick 3C-SiC thin films deposited on silicon, silicon nitride, and silicon oxide substrates are presented as an attempt to establish a baseline spectra for 3C-SiC, the poly-type of SiC found in MEMS made with the MUSiC process.
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Stress Analysis of Silicon Carbide Microelectromechanical Systems Using Raman Spectroscopy
Da: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 18,55
Spedizione EUR 4,78
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloPAP. Condizione: New. New Book. Delivered from our UK warehouse in 4 to 14 business days. THIS BOOK IS PRINTED ON DEMAND. Established seller since 2000.
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Stress Analysis of Silicon Carbide Microelectromechanical Systems Using Raman Spectroscopy
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 109,98
Spedizione EUR 17,22
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: As New. Unread book in perfect condition.
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Stress Analysis of Silicon Carbide Microelectromechanical Systems Using Raman Spectroscopy
Da: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 100,53
Spedizione EUR 28,71
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrellopaperback. Condizione: Like New. Like New. book.
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Stress Analysis of Silicon Carbide Microelectromechanical Systems Using Raman Spectroscopy
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 132,13
Spedizione EUR 2,26
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: As New. Unread book in perfect condition.
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Visual and Optical Testing (Nondestructive Testing Handbook)
Lingua: Inglese
Editore: Amer Society for Nondestructive, 1993
ISBN 10: 0931403057 ISBN 13: 9780931403057
Da: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 165,57
Spedizione EUR 28,71
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Good. Good. Dust Jacket NOT present. CD WILL BE MISSING. . SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
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Nondestructive Testing Overview (Nondestructive Testing Handbook (2nd Ed.), V. 10.)
Lingua: Inglese
Editore: Amer Society for Nondestructive, 1996
ISBN 10: 1571170189 ISBN 13: 9781571170187
Condizione: New. Satisfaction Guaranteed or your money back.
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Nondestructive Testing Overview (Nondestructive Testing Handbook (2nd Ed.), V. 10.)
Lingua: Inglese
Editore: Amer Society for Nondestructive, 1996
ISBN 10: 1571170189 ISBN 13: 9781571170187
Da: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 267,28
Spedizione EUR 28,71
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrellohardcover. Condizione: New. NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
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Stress Analysis of Silicon Carbide Microelectromechanical Systems Using Raman Spectroscopy
Da: Majestic Books, Hounslow, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 25,98
Spedizione EUR 7,46
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 4 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. Print on Demand pp. 122.
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Stress Analysis of Silicon Carbide Microelectromechanical Systems Using Raman Spectroscopy
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New. Print on Demand pp. 122.
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Stress Analysis of Silicon Carbide Microelectromechanical Systems Using Raman Spectroscopy
Da: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Germania
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 26,77
Spedizione EUR 9,95
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 4 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. PRINT ON DEMAND pp. 122.
