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Characterization of High Tc Materials and Devices by Electron Microscopy
Lingua: Inglese
Editore: Cambridge University Press, 2000
ISBN 10: 052155490X ISBN 13: 9780521554909
hardcover. Condizione: Good. Connecting readers with great books since 1972! Used textbooks may not include companion materials such as access codes, etc. May have some wear or writing/highlighting. We ship orders daily and Customer Service is our top priority!
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Characterization of High Tc Materials and Devices by Electron Microscopy
Lingua: Inglese
Editore: Cambridge University Press, 2000
ISBN 10: 052155490X ISBN 13: 9780521554909
EUR 4,12
Spedizione EUR 15,62
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
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Oxygen, Carbon, Hydrogen and Nitrogen in Crystalline Silicon: Symposiumheld December 2-5, 1985, Boston, Massachusetts, U.S.A. (Materials Research Society Symposia Proceedings)
Lingua: Inglese
Editore: Materials Research Society, 1986
ISBN 10: 0931837243 ISBN 13: 9780931837241
Da: GuthrieBooks, Spring Branch, TX, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Hardcover. Condizione: Very Good. Ex-Library hardcover in very nice condition with all the usual markings and attachments.
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Characterization of High Tc Materials and Devices by Electron Microscopy
Lingua: Inglese
Editore: Cambridge University Press, 2006
ISBN 10: 0521031702 ISBN 13: 9780521031707
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 55,14
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Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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Characterization of High Tc Materials and Devices by Electron Microscopy (Paperback or Softback)
Lingua: Inglese
Editore: Cambridge University Press 11/23/2006, 2006
ISBN 10: 0521031702 ISBN 13: 9780521031707
Da: BargainBookStores, Grand Rapids, MI, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Paperback or Softback. Condizione: New. Characterization of High Tc Materials and Devices by Electron Microscopy. Book.
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Characterization of High Tc Materials and Devices by Electron Microscopy
Lingua: Inglese
Editore: Cambridge University Press, 2006
ISBN 10: 0521031702 ISBN 13: 9780521031707
Da: California Books, Miami, FL, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 59,17
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Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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Characterization of High Tc Materials and Devices by Electron Microscopy
Lingua: Inglese
Editore: Cambridge University Press, 2006
ISBN 10: 0521031702 ISBN 13: 9780521031707
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 61,24
Spedizione EUR 2,26
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Characterization of High Tc Materials and Devices by Electron Microscopy
Lingua: Inglese
Editore: Cambridge University Press, 2006
ISBN 10: 0521031702 ISBN 13: 9780521031707
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 58,44
Spedizione EUR 13,76
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Characterization of High Tc Materials and Devices by Electron Microscopy
Lingua: Inglese
Editore: Cambridge University Press 2006-11-23, 2006
ISBN 10: 0521031702 ISBN 13: 9780521031707
Da: Chiron Media, Wallingford, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 55,45
Spedizione EUR 17,79
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 10 disponibili
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Characterization of High Tc Materials and Devices by Electron Microscopy
Lingua: Inglese
Editore: Cambridge University Press, 2006
ISBN 10: 0521031702 ISBN 13: 9780521031707
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 58,37
Spedizione EUR 17,22
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EUR 59,04
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EUR 59,04
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Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Bon. Ancien livre de bibliothèque avec équipements. Edition 2012. Ammareal reverse jusqu'à 15% du prix net de cet article à des organisations caritatives. ENGLISH DESCRIPTION Book Condition: Used, Good. Former library book. Edition 2012. Ammareal gives back up to 15% of this item's net price to charity organizations.
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Oxygen, Carbon, Hydrogen and Nitrogen in Crystalline Silicon: Symposiumheld December 2-5, 1985, Boston, Massachusetts, U.S.A. (Materials Research Society Symposia Proceedings)
Lingua: Inglese
Editore: Materials Research Society, 1986
ISBN 10: 0931837243 ISBN 13: 9780931837241
Da: ThriftBooks-Atlanta, AUSTELL, GA, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Hardcover. Condizione: Very Good. No Jacket. May have limited writing in cover pages. Pages are unmarked. ~ ThriftBooks: Read More, Spend Less.
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Characterization of High Tc Materials and Devices by Electron Microscopy
Lingua: Inglese
Editore: Cambridge University Press, 2006
ISBN 10: 0521031702 ISBN 13: 9780521031707
Da: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, Irlanda
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 68,85
Spedizione EUR 10,50
Spedito da Irlanda a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. A comprehensive account of the application of electron-based microscopies to the study of high-Tc superconductors. Editor(s): Browning, Nigel D.; Pennycook, Stephen. Num Pages: 408 pages, 267 b/w illus. 3 tables. BIC Classification: PHFC; TGM. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 247 x 174 x 21. Weight in Grams: 650. . 2006. Illustrated. paperback. . . . .
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Characterization Of High Tc Materials And Devices By Electron Microscopy
Lingua: Inglese
Editore: Cambridge University Press, 2000
ISBN 10: 052155490X ISBN 13: 9780521554909
Da: Basi6 International, Irving, TX, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: Brand New. New. US edition. Expediting shipping for all USA and Europe orders excluding PO Box. Excellent Customer Service.
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Characterization Of High Tc Materials And Devices By Electron Microscopy
Lingua: Inglese
Editore: Cambridge University Press, 2000
ISBN 10: 052155490X ISBN 13: 9780521554909
Da: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: New. This is a Brand-new US Edition. This Item may be shipped from US or any other country as we have multiple locations worldwide.
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Characterization of High Tc Materials and Devices by Electron Microscopy
Lingua: Inglese
Editore: Cambridge University Press, 2006
ISBN 10: 0521031702 ISBN 13: 9780521031707
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 64,79
Spedizione EUR 17,22
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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CHARACTERIZATION OF HIGH TC MATERIALS AND DEVICES BY ELECTRON MICROSCOPY
Lingua: Inglese
Editore: Cambridge University Press, 2000
ISBN 10: 052155490X ISBN 13: 9780521554909
Da: Basi6 International, Irving, TX, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: Brand New. New. US edition. Expediting shipping for all USA and Europe orders excluding PO Box. Excellent Customer Service.
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Characterization Of High Tc Materials And Devices By Electron Microscopy
Lingua: Inglese
Editore: Cambridge University Press, 2000
ISBN 10: 052155490X ISBN 13: 9780521554909
Da: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: New. This is a Brand-new US Edition. This Item may be shipped from US or any other country as we have multiple locations worldwide.
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Characterization of High Tc Materials and Devices by Electron Microscopy
Lingua: Inglese
Editore: Cambridge University Press, 2006
ISBN 10: 0521031702 ISBN 13: 9780521031707
Da: Kennys Bookstore, Olney, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 84,14
Spedizione EUR 9,00
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. A comprehensive account of the application of electron-based microscopies to the study of high-Tc superconductors. Editor(s): Browning, Nigel D.; Pennycook, Stephen. Num Pages: 408 pages, 267 b/w illus. 3 tables. BIC Classification: PHFC; TGM. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 247 x 174 x 21. Weight in Grams: 650. . 2006. Illustrated. paperback. . . . . Books ship from the US and Ireland.
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Characterization of High Tc Materials and Devices by Electron Microscopy
Lingua: Inglese
Editore: Cambridge University Press, 2015
ISBN 10: 052155490X ISBN 13: 9780521554909
EUR 29,90
Spedizione EUR 105,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Seiten: 406 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | A comprehensive account of the application of electron-based microscopies to the study of high-Tc superconductors.
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Characterization of High Tc Materials and Devices by Electron Microscopy
Lingua: Inglese
Editore: Cambridge University Press, 2006
ISBN 10: 0521031702 ISBN 13: 9780521031707
EUR 77,84
Spedizione EUR 63,51
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This is a clear and up-to-date account of the application of electron-based microscopies to the study of high-Tc superconductors. Written by leading experts, this compilation provides a comprehensive review of scanning electron microscopy, transmission electron microscopy and scanning transmission electron microscopy, together with details of each technique and its applications. Introductory chapters cover the basics of high-resolution transmission electron microscopy, including a chapter devoted to specimen preparation techniques and microanalysis by scanning transmission electron microscopy. Ensuing chapters examine identification of new superconducting compounds, imaging of superconducting properties by low-temperature scanning electron microscopy, imaging of vortices by electron holography and electronic structure determination by electron energy loss spectroscopy. The use of scanning tunneling microscopy for exploring surface morphology, growth processes and the mapping of superconducting carrier distributions is also discussed. Final chapters consider applications of electron microscopy to the analysis of grain boundaries, thin films and device structures. Detailed references are included. This book will interest graduate students and researchers in condensed matter physics and material science.
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Affare
EUR 136,80
Spedizione EUR 16,50
Spedito da Francia a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: Bon. Ancien livre de bibliothèque avec équipements. Edition 2012. Tome 1. Ammareal reverse jusqu'à 15% du prix net de cet article à des organisations caritatives. ENGLISH DESCRIPTION Book Condition: Used, Good. Former library book. Edition 2012. Volume 1. Ammareal gives back up to 15% of this item's net price to charity organizations.
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Oxygen, Carbon, Hydrogen and Nitrogen in Crystalline Silicon Symposiumheld December 2-5, 1985, Boston, Massachusetts, U. S. A.
Lingua: Inglese
Editore: Materials Research Society, Warrendale, PA, 1986
ISBN 10: 0931837243 ISBN 13: 9780931837241
Da: True Oak Books, Highland, NY, U.S.A.
Membro dell'associazione: IOBA
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Prima edizione
Hardcover. Condizione: Good+. Condizione sovraccoperta: No Dust Jacket. Materials Research Society Symposia Proceedings; 6.5 X 1.75 X 9.5 inches; 579 pages; graphs. Ex-Library copy with usual identifiers. Minor yellowing on pages. Very Good condition otherwise. No other noteworthy defects. No markings on text pages. ; - Your satisfaction is our priority. We offer free returns and respond promptly to all inquiries. Your item will be carefully cushioned in bubble wrap and securely boxed. All orders ship on the same or next business day. Buy with confidence. 1st Edition (Unstated); No Printing Stated.
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Characterization of High Tc Materials and Devices by Electron Microscopy
Lingua: Inglese
Editore: Cambridge University Press, 2000
ISBN 10: 052155490X ISBN 13: 9780521554909
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 167,80
Spedizione EUR 13,76
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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Characterization of High Tc Materials and Devices by Electron Microscopy
Lingua: Inglese
Editore: Cambridge University Press, 2000
ISBN 10: 052155490X ISBN 13: 9780521554909
Da: California Books, Miami, FL, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 187,24
Spedizione gratuita
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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Characterization of High Tc Materials and Devices by Electron Microscopy
Lingua: Inglese
Editore: Cambridge University Press, 2000
ISBN 10: 052155490X ISBN 13: 9780521554909
Da: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, Irlanda
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 193,25
Spedizione EUR 10,50
Spedito da Irlanda a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. A comprehensive account of the application of electron-based microscopies to the study of high-Tc superconductors. Editor(s): Browning, Nigel D.; Pennycook, Stephen J. Num Pages: 406 pages, 267 b/w illus. 3 tables. BIC Classification: PHFC; PHK; TGM. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 247 x 174 x 24. Weight in Grams: 1125. . 2000. Illustrated. hardcover. . . . .
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Edizione InternazionaleCharacterization Of High Tc Materials And Devices By Electron Microscopy
Da: UK BOOKS STORE, London, LONDO, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 203,49
Spedizione EUR 6,88
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 3 disponibili
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Handbook of Nanoscopy, 2 Volume Set
Da: Salish Sea Books, Bellingham, WA, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Hardcover. Condizione: Fine. 3527317066 ** Complete 2-Volume Set **; Like New; Hardcover; Close to new condition; Covers are still glossy with "straight" edge-corners; Unblemished textblock edges; The endpapers and all text pages of both volumes are bright and unmarked; Binding is tight with a straight spine; This book will be stored and delivered in a sturdy cardboard box with foam padding; Medium Format (8.5" - 9.75" tall); Heavy (6.8 lbs); White, blue, and orange covers with title in black lettering; 2012, Wiley-VCH Publishing; 1450 pages; "Handbook of Nanoscopy," by Gustaaf van Tendeloo, et al.
